[发明专利]用于模拟到数字转换的伪多采样方法、系统和装置有效
申请号: | 200810210441.9 | 申请日: | 2008-08-15 |
公开(公告)号: | CN101388668A | 公开(公告)日: | 2009-03-18 |
发明(设计)人: | 林湧 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H03M1/12 | 分类号: | H03M1/12;H03M1/34;H04N3/15;H04N5/217 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郭鸿禧;刘奕晴 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 模拟 数字 转换 采样 方法 系统 装置 | ||
1.一种用于将模拟信号转换为具有定义预定的量化等级的预定位数 的数字值的方法,该方法包括:
使用在互相偏移的重复采样中的量化等级以比预定的位数定义的分辨率 低的分辨率将模拟信号进行重复采样,从而所述重复采样包括所述预定的位 数的预定量化等级,以获得多个较低分辨率采样结果;
将多个低分辨率采样结果求和以获得具有所述预定位数的数字值,
其中,重复采样步骤包括:使用2N/M个量化等级将模拟信号重复采样 M次,其中,N是预定位数。
2.如权利要求1所述的方法,其中,所述预定的量化等级以相等的间 隔被分离。
3.如权利要求1所述的方法,其中,所述预定的量化等级中的至少三 个以不相等的间隔被分离。
4.如权利要求1所述的方法,其中,重复采样步骤包括:使用一系列 斜升和斜降采样电压将模拟信号重复采样。
5.如权利要求4所述的方法,其中,所述一系列斜升和斜降采样电压 包括一系列阶梯、常量斜率采样电压和/或多斜率的斜升和斜降采样电压。
6.如权利要求1所述的方法,其中,使用2N/M个量化等级将模拟信 号重复采样M次的步骤包括:通过相应于数字值的最低有效位的至少一个量 化等级来互相偏移重复采样中的2N/M个量化等级,使用2N/M个量化等级将 模拟信号重复采样M次。
7.如权利要求6所述的方法,其中,使用2N/M个量化等级将模拟信 号重复采样M次的步骤包括:产生具有总数为M的斜升和斜降电压的一系 列斜坡电压以将模拟信号重复采样M次,其中,各个斜升和斜降电压包括大 小为M的2N/M个斜坡电压步长。
8.如权利要求1所述的方法,其中,使用2N/M个量化等级将模拟信 号重复采样M次的步骤包括:产生具有总数为M的斜升和斜降电压的一系 列斜坡电压以将模拟信号重复采样M次,其中,相比于前一斜坡电压开始的 电压,后一斜坡电压在不同的电压结束。
9.如权利要求1所述的方法,其中,使用2N/M个量化等级将模拟信 号重复采样M次的步骤包括:产生具有总数为M的斜升和斜降电压的一系 列斜坡电压以将模拟信号重复采样M次,其中,一系列斜坡电压的开始电压 和结束电压包括所有所述预定位数的量化等级。
10.如权利要求1所述的方法,其中,使用2N/M个量化等级将模拟信 号重复采样M次的步骤包括:产生具有总数为M的斜升和斜降电压的一系 列斜坡电压以将模拟信号重复采样M次,其中,斜坡电压每单位时间增加或 减少相应于所述预定量化等级的电压的M倍。
11.如权利要求1所述的方法,其中,重复采样包括:当斜坡电压相应 于模拟信号时,将模拟信号与一系列斜坡电压进行重复比较并重复识别较低 分辨率数字值。
12.如权利要求11所述的方法,其中,求和步骤包括:将识别的较低 分辨率数字值进行求和。
13.如权利要求11所述的方法,其中,将模拟信号与一系列斜坡电压 重复比较的步骤包括:将模拟信号与一系列斜坡电压的和与参考电压重复比 较。
14.如权利要求11所述的方法,其中,将模拟信号与一系列斜坡电压 重复比较的步骤当计算偏移量时被执行。
15.如权利要求1所述的方法,其中,模拟信号通过CMOS图像传感 器被产生。
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