[发明专利]具有陷光结构的超薄铜铟镓硒薄膜太阳电池的制备方法有效

专利信息
申请号: 200810204035.1 申请日: 2008-12-04
公开(公告)号: CN101752454A 公开(公告)日: 2010-06-23
发明(设计)人: 徐传明;曹章轶;马贤芳;王小顺 申请(专利权)人: 上海空间电源研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 郑丹力
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 具有 结构 超薄 铜铟镓硒 薄膜 太阳电池 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种具有陷光结构的玻璃衬底超薄铜铟镓硒薄膜太阳电池的制造方 法,其特征在于,该方法包括如下步骤:

步骤一、在清洗处理后的普通钠钙玻璃衬底[10]上,溅射沉积背电极Mo 膜[11],厚度为0.5μm~1.0μm;

步骤二、在背电极[11]上溅射沉积具有绒度的Ag膜[12],厚度为50nm~ 150nm,衬底温度为150℃~300℃;

步骤三、采用溅射法沉积透明导电ZnO:A1薄膜[13],厚度为0.15μm~ 0.25μm,衬底温度为150℃~250℃;

步骤四、溅射沉积厚度为3nm~20nm的Mo膜,采用固态硒源硒化法对 其硒化,形成厚度为5nm~25nm的MoSe2薄膜[14];

步骤五、利用共蒸发法沉积具有“V”型带隙梯度分布的铜铟镓硒吸收层 [15],所述铜铟镓硒的化学式为CuIn1-xGax(Se1-ySy)2,原子比y=0,即在MoSe2薄膜[14]上先沉积宽带隙铜铟镓硒薄膜,所述铜铟镓硒的化学式为 CuIn1-xGax(Se1-ySy)2,原子比x>0.7,y=0,厚度为0.05μm~0.12μm,再沉积 窄带隙铜铟镓硒薄膜,所述铜铟镓硒的化学式为CuIn1-xGax(Se1-ySy,原子比 0.35≥x≥0.22,y=0,通过工艺参数调控,在吸收层中形成“V”型带隙梯度 分布;吸收层的厚度为0.3μm~1.0μm;吸收层薄膜制备过程中,衬底温度控 制在360℃~510℃;吸收层沉积结束后,对其进行原位蒸发适量NaF材料的 热处理,使得吸收层中Na原子的含量保持在0.1%;

步骤六、用化学水浴法,在吸收层[15]上沉积Zn(S,O,OH)缓冲层[16],厚 度为30nm~70nm;

步骤七、在衬底未有意加热的条件下,溅射沉积透明窗口层SnO2:In薄膜 [17],厚度为0.2μm~0.4μm;

步骤八、在透明窗口层[17]上蒸发沉积上电极Ni/A1复合薄膜[18],厚度 为2.5μm~3μm;

步骤九、蒸发沉积减反射层MgF2薄膜[19],厚度为100nm~130nm。

2.如权利要求1所述的玻璃衬底超薄铜铟镓硒薄膜太阳电池的制造方法, 其特征在于:在Ag膜[12]表面直接沉积MoSe2薄膜[14]代替步骤三和步骤四, 实现背反射复合层为双层复合薄膜结构。

3.如权利要求1所述的玻璃衬底超薄铜铟镓硒薄膜太阳电池的制造方法, 其特征在于:在Ag膜表面直接沉积MoSe2薄膜,实现背反射复合层为双层复 合薄膜结构代替步骤三和步骤四;用溅射金属预置层后硒化/硫化法制备具有 “V”型带隙梯度的铜铟镓硒硫吸收层[15]代替步骤五,所述铜铟镓硒硫的化 学式为CuIn1-xGax(Se1-ySy)2,原子比0.15≤y≤0.3,即在MoSe2薄膜[14]上溅 射CuGa靶和In靶,其中CuGa靶的Ga含量为22wt.%,制备出厚度为0.12μm~ 0.4μm的Cu-In-Ga金属预置层;然后采用固态硒源、固态硫源先后对金属预 置层进行硒化和硫化处理,制备具有“V”型带隙梯度分布的铜铟镓硒硫薄膜, 所述铜铟镓硒硫的化学式为CuIn1-xGax(Se1-ySy)2,原子比0.22≤x≤0.35, 0.15≤y≤0.3;在硒化和硫化处理过程中,衬底温度为400℃~510℃,所制备 的吸收层厚度为0.3μm~1.0μm;吸收层沉积结束后,对其进行原位蒸发NaF 材料的热处理,使得吸收层中Na原子的含量保持在0.1%。

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