[发明专利]笔迹书写的方法及装置有效

专利信息
申请号: 200810198991.3 申请日: 2008-10-07
公开(公告)号: CN101377856A 公开(公告)日: 2009-03-04
发明(设计)人: 李俊文;徐蜀中 申请(专利权)人: 广东威创视讯科技股份有限公司
主分类号: G06T11/80 分类号: G06T11/80
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 代理人: 曾旻辉
地址: 510663广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 笔迹 书写 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及计算机绘图技术领域,特别涉及一种计算机中的笔迹书写的方法及装置。

背景技术

随着计算机应用的日益普及,计算机绘图技术也日益普遍,涉及美术、设计、教育、军事以及会议等领域,通常情况下,计算机绘制图像是通过识别画笔(鼠标)移动的时候的一些点,将这些点通过直线段按照画笔轨迹相连,得到一条画笔折线,当取样点足够多的情况下,该折线即可以粗略地表示出画笔的路径,但是,由于每一条折线的斜率不同,在两条直线相连接时会出现尖点,导致书写出来的画笔轨迹出现很多尖点,书写笔迹不平滑。此外,在绘制图形过程中,由于用户书写时画笔的抖动现象,易导致书写时产生锯齿、滞后、断笔的显像,影响书写笔迹的美观性及平滑性。

现有技术中,为了减少画笔轨迹出现的尖点,出现了一种通过丢弃距离较短的采样点、并对距离较大的采样点进行修正的处理方式,其可以获得较好的平滑处理效果,但是,由于丢弃了其中的一部分采样点,采用这种处理方式所绘制出来的书写笔迹,跟实际所绘制的笔迹具有一定的差距,例如,在实际书写波浪线、小字体的字迹时,由于丢弃了距离较短的取样点,从而可能导致所绘制出的书写笔迹与实际的书写笔迹的相符合的程度不高。

发明内容

针对现有技术中所存在的问题,本发明的第一个目的在于提供一种笔迹书写的方法,其可以有效防止尖点及抖动现象,使书写笔迹流畅。

为达到上述目的,本发明采用以下技术方案:

一种笔迹书写的方法,包括步骤:

捕捉画笔移动路径上的采样点;

使用预设第一修正模板、根据前一采样点的修正点的位置坐标、前一采样点的位置坐标以及当前采样点的位置坐标修正所述当前采样点,获得第一修正点的位置坐标;

判断所述第一修正点与所述前一采样点的修正点之间的投影距离是否大于预定距离;

若是,使用预设第二修正模板、并根据所述前一采样点的修正点的位置坐标、所述前一采样点的位置坐标以及所述当前采样点的位置坐标修正所述当前采样点,获得第二修正点的位置坐标,并将该第二修正点作为所述当前采样点的最终修正点;

若否,将所述第一修正点作为所述当前采样点的最终修正点;

使用预设曲线类型连接所述前一采样点的修正点与所述最终修正点。

根据上述本发明的方法,其不丢弃采样点,根据前一采样点的修正点的位置坐标、前一采样点的位置坐标以及当前采样点的位置坐标对当前采样点进行修正,并在对采样点进行初次修正后,若修正后的结果不能满足预定要求,则重新对该采样点进行修正,即通过采用预设第一修正模板对当前采样点进行修正得到第一修正点的位置坐标后,如果该第一修正点与上一个采样点的修正点之间的投影距离大于了预定距离,则说明采用预设第一模板对当前采样点进行修正是不合适的,因此换用预设第二修正模板重新对采样点进行修正,由于没有丢弃采样点,且通过采用两个模板有选择性地对各采样点进行修正,以满足预先设定的条件,可使得修正后的绘制出来的曲线满足平滑的书写效果,从而可以有效地防止尖点及抖动现象,使书写笔迹流畅。

本发明的第二个目的在于提供一种笔迹书写的装置,其可以有效防止尖点及抖动现象,使书写笔迹流畅。

为达到上述目的,本发明采用以下技术方案:

一种笔迹书写的装置,包括:

采样点捕捉模块,用于捕捉画笔移动路径上的采样点;

与所述采样点捕捉模块连接的第一修正模块,用于使用预设第一修正模板、并根据前一采样点的修正点的位置坐标、前一采样点的位置坐标以及当前采样点的位置坐标修正所述当前采样点,获得第一修正点的位置坐标;

与所述第一修正模块连接的判别模块,用于判断所述第一修正点与所述前一采样点的修正点之间的投影距离是否大于预定距离;

与所述采样点捕捉模块、所述判别模块连接的第二修正模块,用于当所述判别模块的判断结果为是时,使用预设第二修正模板、并根据所述前一采样点的修正点的位置坐标、所述前一采样点的位置坐标以及所述当前采样点的位置坐标修正所述当前采样点,获得第二修正点的位置坐标;

与所述第一修正模块、所述判别模块、所述第二修正模块连接的曲线连接模块,用于当所述判别模块的判断结果为否时,将所述第一修正点坐标作为所述当前采样点的最终修正点,当所述判别模块的判断结果为是时,将所述第二修正点坐标作为所述当前采样点的最终修正点,并使用所述预设曲线类型连接该最终修正点与上一采样点的修正点。

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