[发明专利]联合测试组链路成链方法及联合测试组链路装置

说明书

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种联合测试组链路成链方法及联合测试组链路装置。

背景技术

在目前常用的单板设计中，已经广泛采用联合测试组(JTAG，Joint TestAction Group)链路的设计方式，实现了单板的各种测试功能，以及完成某些芯片的调试、加载等功能。

在实际应用中，为了满足各种需求，往往需要对一个JTAG链路进行分链设计。

例如为了实现加载的可靠性与高速度，要求尽量少的器件组链，会倾向于只将与加载相关的边界扫描(BS，Boundary Scan)器件连成一条的JTAG链路；或者为了更好的实现单板互连测试等功能，方便生产定位维修，要求将尽量多的器件组链，会倾向于将单板上所有的BS器件组成一条JTAG链路。

此时就需要对一块单板上的JTAG链进行分链路设计，使一个单板上的器件可以通过选择组成不同的链路，让单板实现整板JTAG链及各分链路，来支持各种需求。其中将为常见的情况也就是既可以将单板上所有的BS器件组成一条较长的JTAG链路，也可以只将其中部分BS器件组成一条较短的JTAG链路。

分链时常用的方法有两种：

1)在单板上加装选择器，选择器可控制不同的链路是否有效，通过控制选择器选择不同的链路，实现分链；

2)在单板上加装JTAG专用桥片，通过JTAG专用桥片来实现链路的隔离或者多链设计，JTAG专用桥片可以连接多个不同链路，通过控制JTAG专用桥片选择不同的链路，实现分链。

在对现有技术的研究和实践过程中，发明人发现现有技术存在以下问题：

这两种方法都需要在单板上增加硬件，硬件增加就会增加电路设计的复杂度，单板上器件增多，器件故障的几率增加，也会造成单板坏板率增加，同时增加硬件，成本也会上升。

发明内容

本发明实施例要解决的技术问题是提供一种联合测试组链路成链方法及联合测试组链路装置，可以减少联合测试组链路分链时使用的器件。

本发明实施例一方面，提供了一种联合测试组链路成链方法，包括：

将属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚分别与联合测试组链接口的不同引脚连接；

将属于不同链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的不同测试数据输出引脚连接；

在所述联合测试组链接口通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态时，选通第一链路。

另一方面，提供了一种联合测试组链路装置，包括：联合测试组链接口，至少两个边界扫描器件；

属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚分别与所述联合测试组链接口的不同引脚连接；

属于不同链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的不同测试数据输出引脚连接；

在所述联合测试组链接口通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态时，第一链路有效。

由以上技术方案可以看出，由于将属于某一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于该链路的边界扫描器件的控制引脚分别连接到联合测试组链接口不同的引脚，在需要使该链路有效时，由联合测试组链接口控制不属于该链路的边界扫描器件无效，既可完成，不需要增加新的器件，与现有技术相比有效减少了器件的使用量，相应减轻了电路设计的复杂度，降低了单板坏板率，降低了成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的边界扫描器件引脚图；

图2为本发明提供的联合测试组链路装置实施例一结构图；

图3为本发明提供的联合测试组链路装置实施例二电路原理图；

图4为本发明提供的联合测试组链路装置实施例三电路原理图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。