[发明专利]发光二极管承载片及其电性测试平台

说明书

技术领域

本发明关于一种发光二极管承载片以及针对所述发光二极管承载片进行电性测试的平台。

背景技术

现有针对发光二极管进行电性测试的方式，请参考图5所示，是主要于一载台60上放置一承载胶片70，其中承载胶片70表面设有多个待测的发光二极管71(图中仅显示一个为代表)，再以两个为一组的探针80分别对应接触同一发光二极管71的两电极，而逐一对每个发光二极管71进行电性测试，或是以多组探针80同时对多个发光二极管71进行电性测试，此种测试方式虽是经由电脑配合机械动作进行操作，但由于以两个为一组的探针80分别对准接触发光二极管71的两电极的步骤是为精密且耗时的程序，故整体作业时间因此而拉长，有待针对测试方式作进一步改良以缩短作业时间，让整体工艺更快速。

发明内容

有鉴于现有技术的缺点，本发明的一目的在于提供一种发光二极管承载片，可使一测试平台只需使用单一探针对应单一个发光二极管进行电性测试，不仅使探针使用量减半且相对缩短电性测试的作业时间。

欲达上述目的所使用的技术手段，所述发光二极管承载片是主要于一载体上设有一可导通电流的电极接触面，可提供多个底面及顶面均设有电极的发光二极管设置于所述电极接触面上，使所述电极接触面同时与各发光二极管底面的电极电性接触。

本发明的另一目的在于提供一种应用前述发光二极管承载片的发光二极管电性测试平台。

达成此目的所使用的技术手段，是令所述发光二极管电性测试平台包括：

一电连接件，是供电连接前述发光二极管承载片的电极接触面；以及

至少一探针，是连接所述电连接件，所述至少一探针可供电性接触前述发光二极管承载片上的发光二极管顶面的电极，藉此使探针与发光二极管承载片的电极接触面构成回路以测试各发光二极管是否正常。

所述发光二极管电性测试平台可进一步包括一载台供所述发光二极管承载片置放定位于其上。

由于发光二极管承载片的电极接触面提供多个发光二极管底面的电极共用所述电极接触面，当进行电性测试时，单一发光二极管仅需由一个探针对应接触另一个电极，故可节省第二个探针的使用，可提升整体测试作业的速度，降低工艺的时间成本。

附图说明

图1：是本发明第一实施例的立体示意图。

图2：是图1的侧视图。

图3：本发明第二实施例的侧视图。

图4：本发明第三实施例的侧视图。

图5：现有发光二极管电性测试平台的立体示意图。

附图标号

10载体                100电极接触面

11金属薄膜            12A绝缘胶膜

12B导电胶膜           20发光二极管

200第一电极           201第二电极

30探针                40载台

41穿孔                50电连接件

60载台                70承载胶片

71发光二极管          80探针

具体实施方式

本发明包括一种发光二极管承载片以及一种提供所述发光二极管承载片进行发光二极管电性测试的测试平台，所述的发光二极管承载片，请参考图1所示，是揭示有一载体10，所述载体10上是设有一可导通电流的电极接触面100，本实施例中，所述载体10为金属材料或半导体材料所制成；于所述电极接触面100上设有多个发光二极管20(图中仅显示一个作为代表)，各发光二极管20的底面设有一第一电极200而共同电性接触所述电极接触面10，各发光二极管20的顶面则设有一第二电极201，此种发光二极管形式有别于一般正负极皆设同一表面的发光二极管形式，可增加顶面的发光区域面积而提升亮度，并可直接将发光二极管产生的热源直接通过负极散掉。

前述发光二极管承载片的载体10除可为金属材料或半导体材料所制成之外，尚可包括其他种实施态样，如图3、图4所示，所述载体10可包括一基材12A，12B以及一镀于基材12A，12B表面的金属薄膜11，从而以此金属薄膜11作为电极接触面100，所述基材12A，12B可为一绝缘胶膜12A或是一导电胶膜12B。

关于提供前述的发光二极管承载片进行发光二极管电性测试的测试平台，如图1所示，包括：

一电连接件50，是连接一测试电压源的一端(图中未示出所述电压源)，所述电连接件50是供电连接所述发光二极管承载片的载体10的电极接触面100，本实施例中，是呈一夹子形式；以及