[发明专利]监测光的方法和装置

权利要求书

1.一种监测光的方法，包括：

将光束射入单模光纤的端部，所述单模光纤包括：折射率为n₁的纤芯和折射率为n₂的 围绕所述纤芯的包层，其中n₁＞n₂，其中射入所述单模光纤的端部的光束的功率的第一部分 P₁在所述光纤的第一端面被射入所述纤芯中，所述光束的功率的第二部分P₂在所述光纤的 第一端面被直接射入所述包层中，其中P₂/P₁＞0.05；在所述光纤的所述端部附近的第一位置 处，沿所述光纤一侧靠近所述包层，用沿所述光纤一侧设置的光电探测器探测射入所述光 纤的所述光束的功率的一部分P₃，其中所述部分P₃包括超过0.5％的P₂和不超过0.003％的P₁。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述光束射入所述单模光纤的端部中的所述 步骤，包括将激光二极管的输出端和所述单模光纤的所述端部光耦合的步骤。

3.根据权利要求2所述的方法，还包括，将与所述光电探测器探测的光成比例的输出 信号提供给控制电路，所述控制电路与所述激光二极管电连接，用于控制被射入所述单模 光纤的端部的光束。

4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述光电探测器被设置在距离所述单模光纤的 所述端部小于20cm处。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，被射入单模光纤的所述端部的所述光束的至少 60％进入所述光纤的所述纤芯。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，在所述光纤和所述光电探测器之间没有放置任 何光学元件。

7.根据权利要求5所述的方法，其中，在所述光纤和所述光电探测器之间设置有滤波 器。

8.根据权利要求4所述的方法，其中，在最接近所述光电探测器位置的区域内的所述 包层上的保护覆盖层没有被移除。

9.一种监测光的方法，包括以下步骤：

将光电探测器设置在单模光纤的发射端的下游的第一位置处；

将光功率为P的光束射入所述光纤的所述发射端，，所述光束的功率的大部分即第一 部分P₁被射入所述光纤的所述发射端的纤芯中，其中所述光束的功率的小部分即第二部分 P₂被射入所述光纤的所述发射端的包层内；以及

将所述光电探测器设置在邻近所述包层的位置处进行探测，使用所述光电探测器所探 测的射入所述包层的光束的功率的第二部分P₂的量大于射入所述纤芯的光束的功率的第一 部分P₁。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，在所述光电探测器周围的所述光纤的区域的 弯曲半径小于或者等于20mm。

11.根据权利要求9所述的方法，其中，在所述光电探测器周围的所述光纤的区域的 弯曲半径大于20mm。