[发明专利]学习设备、学习方法、识别设备、识别方法和程序无效

专利信息
申请号: 200810182914.9 申请日: 2008-12-05
公开(公告)号: CN101458764A 公开(公告)日: 2009-06-17
发明(设计)人: 横野顺;长谷川雄一 申请(专利权)人: 索尼株式会社
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/46;G06K9/62
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 陈 炜;李春晖
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 学习 设备 学习方法 识别 方法 程序
【权利要求书】:

1.一种学习设备,包含:

第一特征量计算装置,用于对在多个学习图像的每个中的预定像素和不同像素进行配对,其中所述多个学习图像包括包含要识别的目标对象的学习图像和不包含目标对象的学习图像,而且该第一特征量计算装置还用于通过计算在包括该预定像素的区域和包括该不同像素的区域之间的纹理距离来计算所配对的像素的第一特征量;

第一鉴别器生成装置,用于通过使用多个所述第一特征量的统计学习来生成用于从图像中检测所述目标对象的第一鉴别器;

第二特征量计算装置,用于进行从所述多个学习图像中的每一个中提取轮廓的计算,以及根据计算结果生成第二特征量;

第二鉴别器生成装置,用于通过使用多个所述第二特征量的统计学习来生成用于从图像中检测所述目标对象的第二鉴别器;以及

第三鉴别器生成装置,用于组合第一鉴别器和第二鉴别器以生成用于从图像中检测所述目标对象的第三鉴别器。

2.如权利要求1所述的学习设备,其中,所述第三鉴别器生成装置通过线性地组合第一鉴别器和第二鉴别器来生成第三鉴别器。

3.一种学习设备,包含:

第一特征量计算装置,用于对在多个学习图像的每个中的预定像素和不同像素进行配对,其中所述多个学习图像包括包含要识别的目标对象的学习图像和不包含目标对象的学习图像,而且该第一特征量计算装置还用于通过计算在包括该预定像素的区域和包括该不同像素的区域之间的纹理距离来计算所配对的像素的第一特征量;

第二特征量计算装置,用于进行从所述多个学习图像中的每一个中提取轮廓的计算,以及根据计算结果生成第二特征量;以及

第一鉴别器生成装置,用于通过使用多个第一特征量和多个第二特征量的统计学习来生成用于从图像中检测所述目标对象的第一鉴别器。

4.一种学习方法,包含以下步骤:

对在多个学习图像的每个中的预定像素和不同像素进行配对,其中所述多个学习图像包括包含要识别的目标对象的学习图像和不包含目标对象的学习图像,并且通过计算在包括该预定像素的区域和包括该不同像素的区域之间的纹理距离来计算所配对的像素的第一特征量;

进行从所述多个学习图像中的每一个中提取轮廓的计算,以及根据计算结果生成第二特征量;以及

通过使用多个所述第一特征量和多个所述第二特征量的统计学习来生成用于从图像中检测所述目标对象的鉴别器。

5.一种学习方法,包含以下步骤:

对在多个学习图像的每个中的预定像素和不同像素进行配对,其中所述多个学习图像包括包含要识别的目标对象的学习图像和不包含目标对象的学习图像,并且通过计算在包括该预定像素的区域和包括该不同像素的区域之间的纹理距离来计算所配对的像素的第一特征量;

通过使用多个所述第一特征量的统计学习来生成用于从图像中检测所述目标对象的第一鉴别器;

进行从所述多个学习图像中的每一个中提取轮廓的计算,以及根据计算结果生成第二特征量;

通过使用多个所述第二特征量的统计学习来生成用于从图像中检测所述目标对象的第二鉴别器;以及组合第一鉴别器和第二鉴别器以生成用于从图像中检测所述目标对象的第三鉴别器。

6.一种识别设备,包含:

第一特征量计算装置,用于对在输入图像中的预定像素和不同像素进行配对,并且通过计算在包括该预定像素的区域和包括所述不同像素的区域之间的纹理距离来计算所配对的像素的第一特征量;

第二特征量计算装置,用于进行从所述输入图像中提取轮廓的计算以根据计算结果生成第二特征量;以及

检测装置,用于在由第一特征量计算装置计算的第一特征量和由第二特征量计算装置计算的第二特征量的基础上、通过利用预先记录的第三鉴别器从输入图像中检测目标对象,其中所述第三鉴别器通过组合第一鉴别器和第二鉴别器而生成,所述第一鉴别器通过使用多个第一特征量的统计学习生成,而且所述多个第一特征量从包括要识别的目标对象的学习图像和不包括目标对象的学习图像中获得,所述第二鉴别器通过使用多个第二特征量的统计学习而生成,而且所述多个第二特征量从包括要识别的目标对象的学习图像和不包括目标对象的学习图像中获得。

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