[发明专利]摄像设备有效

专利信息
申请号: 200810180124.7 申请日: 2008-11-27
公开(公告)号: CN101470329A 公开(公告)日: 2009-07-01
发明(设计)人: 清田真人 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G03B17/02 分类号: G03B17/02;H04N5/225
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人: 刘新宇
地址: 日本东京都大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 摄像 设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种如数字式照相机等包括用于除去附着到光学构件表面的异物的异物除去机构的摄像设备。 

背景技术

近年来,已经广泛使用如数字式照相机等利用图像传感器的摄像设备。然而,特别地,在单镜头反射型数字式照相机中,产生了异物可能附着到如图像传感器或滤波器等光学构件的表面从而引起拍摄的像含有异物的像的问题。异物主要是当拆卸镜头时从外部进入摄影开口的灰尘以及由如快速复原反射镜(quick return mirror)或焦平面快门等机械元件的操作产生的磨损粉末。 

可以通过在光学构件的表面上喷射空气来除去异物。然而,难以完全除去异物。在该情况下,需要擦拭光学构件的表面以除去异物的工作。然而,用手擦拭光学构件的表面可能引起表面凹凸不平或刮伤光学构件的表面。 

因此,已经提出了一些用于除去附着到光学构件的表面的异物的具有简单机构的设备。已经提出了为光学构件提供振动从而使附着到表面的异物落下的方法,并且已经在照相机上使用该方法。然而,如果提供的振动太多,则可能引起振动的光学构件断裂的故障。从而,可为光学构件提供的振动的量受到限制。因此,存在振动型异物除去设备不能完全除去具有大附着力的异物的问题。 

已经提出了用于除去附着到光学构件的表面的异物的一些其它方法。日本特开2005-292404号公报论述了以下方法:使 图像传感器的表面露出到外部,允许异物吸引构件从外部进入摄影光路的内部,并且使吸引构件以适当的接触压力与图像传感器的表面接触,从而除去异物。 

在日本特开2001-298640号公报中,论述了在照相机中结合擦拭构件的方法。由电动机驱动使擦拭构件与图像传感器的表面接触并且扫描图像传感器的表面。 

在日本特开2006-119461号公报中,论述了带电构件在不接触图像传感器的表面的状态下扫描图像传感器的表面,以利用静电力从图像传感器的表面除去异物。 

日本特开2005-292404号公报中论述的装置是可安装到照相机的外部从而被用户操作的附件装置。当需要清洁时,必须移除镜头并且必须安装附件装置,使得操作复杂。因此,可能存在用户错过拍照机会的问题。 

在日本特开2001-298640号公报中论述的设备中,照相机的内部结合擦拭构件等,使得可以在任何时点简单地进行异物除去操作。然而,由于擦拭构件被布置在快门叶片和图像传感器之间,因此,这可能引起对元件的配置的限制。特别地,快门叶片的行进面远离摄像面,从而降低了快门效率。因此,存在高快门速度时移动体停止能力低的问题。 

此外,当需要将快门效率保持得尽可能高时,需要使擦拭构件薄型化。因此,存在擦拭构件的强度和位置精度低的问题。特别地,当擦拭构件限于薄材料时,即使擦拭构件是弹性体,弹簧常数也增加。因此,擦拭构件难以对图像传感器的表面提供恒定的压力。压力由于擦拭构件的稍微的精度误差而显著变化。从而,这可能导致不能除去异物的状态或者可能导致图像传感器的表面被刮伤。 

日本特开2006-119461号公报中论述的设备也使用带电单元作为快门叶片,从而可以使对元件的配置的限制和快门效率的劣化最小化。然而,快门叶片的惯性力矩的增加引起了不能实现高的快门速度并且快门叶片的耐久性低的问题。此外,当带电构件被独立设置并且在快门装置和图像传感器之间扫描时,与日本特开2001-298640号公报中论述的设备类似,这导致对元件的配置的限制。另外,快门叶片行进面远离摄像面,使得快门效率降低并且高快门速度时移动体停止能力低。 

发明内容

本发明涉及一种包括用于除去附着到光学构件表面的异物的异物除去机构的如数字式照相机等摄像设备。 

根据本发明的方面,提供一种摄像设备,其包括:异物除去构件,该异物除去构件被构造成沿着光学构件的表面移动以除去异物;快门叶片,该快门叶片被构造成打开和遮蔽摄影光路,所述快门叶片被布置成比所述光学构件靠近被摄体侧;以及盖板,该盖板被构造成限制所述快门叶片的朝向所述光学构件侧的动作范围,其中,所述盖板具有比所述摄影光路大的开口,所述开口的除了所述摄影光路之外的区域包括用于所述异物除去构件的待机位置,并且所述异物除去构件的至少一部分位于在所述开口内,所述异物除去构件与所述快门叶片独立地移动,所述异物除去构件的移动轨迹与所述快门叶片的移动轨迹在光轴方向上彼此重叠,在所述快门叶片打开所述摄影光路的状态下,所述异物除去构件沿着所述光学构件的所述表面移动。 

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