[发明专利]电路布局的线迹检查方法有效
| 申请号: | 200810179698.2 | 申请日: | 2008-12-01 |
| 公开(公告)号: | CN101751482A | 公开(公告)日: | 2010-06-23 |
| 发明(设计)人: | 何振东;吴晟瑞 | 申请(专利权)人: | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈亮 |
| 地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电路 布局 检查 方法 | ||
1.一种电路布局的线迹检查方法,包括:
于一布局图中,选取一布局线迹作为一检查线迹,其中该布局线迹具有多条 线段;
沿着该检查线迹,选择该些线段中的一第一线段与一第二线段分别作为一第 一比较线与一第二比较线,其中该第一线段具有一第一端点与一第二端点,该第二 线段具有一第三端点与一第四端点,且该第二端点与该第三端点连接成一共同端 点;
依据该第一端点、该第四端点以及该共同端点的坐标位置,判断该第一比较 线与该第二比较线之间的一夹角是否小于等于90度,以产生一判断结果,其中判 断该第一比较线与该第二比较线之间的一夹角是否小于等于90度采取以下方式中 的其中一种:
方式一:
利用该第一端点、该第四端点与该共同端点的坐标位置,判断该第一比 较线与该第二比较线其中之一是否为一水平线;
当该第一比较线为该水平线,且该共同端点位于该第一端点的右方时, 若该共同端点的X轴坐标大于等于该第四端点的X轴坐标,则判断该第一比较线 与该第二比较线之间的夹角小于等于90度;以及
当该第二比较线为该水平线,且该共同端点位于该第四端点的右方时, 若该共同端点的X轴坐标大于等于该第一端点的X轴坐标,则判断该第一比较线 与该第二比较线之间的夹角小于等于90度;
或者方式二:
利用该第一端点、该第四端点与该共同端点的坐标位置,判断该第一比 较线与该第二比较线其中之一是否为一水平线;
当该第一比较线为该水平线,且该共同端点位于该第一端点的左方时, 若该共同端点的X轴坐标小于等于该第四端点的X轴坐标,则判断该第一比较线 与该第二比较线之间的夹角小于等于90度;以及
当该第二比较线为该水平线,且该共同端点位于该第四端点的左方时, 若该共同端点的X轴坐标小于等于该第一端点的X轴坐标,则判断该第一比较线 与该第二比较线之间的夹角小于等于90度;
或者方式三:
利用该第一端点、该第四端点与该共同端点的坐标位置,判断该第一比 较线与该第二比较线其中之一是否为一垂直线;
当该第一比较线为该垂直线,且该共同端点位于该第一端点的下方时, 若该共同端点的Y轴坐标小于等于该第四端点的Y轴坐标,则判断该第一比较线 与该第二比较线之间的夹角小于等于90度;以及
当该第二比较线为该垂直线,且该共同端点位于该第四端点的下方时, 若该共同端点的Y轴坐标小于等于该第一端点的Y轴坐标,则判断该第一比较线 与该第二比较线之间的夹角小于等于90度;
或者方式四:
利用该第一端点、该第四端点与该共同端点的坐标位置,判断该第一比 较线与该第二比较线其中之一是否为一垂直线;
当该第一比较线为该垂直线,且该共同端点位于该第一端点的上方时, 若该共同端点的Y轴坐标大于等于该第四端点的Y轴坐标,则判断该第一比较线 与该第二比较线之间的夹角小于等于90度;
当该第二比较线为该垂直线,且该共同端点位于该第四端点的上方时, 若该共同端点的Y轴坐标大于等于该第一端点的Y轴坐标,则判断该第一比较线 与该第二比较线之间的夹角小于等于90度;以及
若该判断结果为是,则产生一提示讯息。
2.如权利要求1所述的电路布局的线迹检查方法,其特征在于,产生该提示讯 息是以高亮度标示出该布局线迹。
3.如权利要求1所述的电路布局的线迹检查方法,其特征在于,产生该提示讯 息的步骤包括:
将该布局线迹加入一清单中;以及
显示该清单。
4.如权利要求1所述的电路布局的线迹检查方法,其特征在于,还包括:
当该判断结果为否时,选择该些线段中的该第二线段与一第三线段分别作为 该第一比较线与该第二比较线,其中该第二线段与该第三线段具有一共同端点。
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