[发明专利]半导体冷却装置无效
| 申请号: | 200810179587.1 | 申请日: | 2005-10-18 |
| 公开(公告)号: | CN101436818A | 公开(公告)日: | 2009-05-20 |
| 发明(设计)人: | 稻田靖之;宫入正树 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
| 主分类号: | H02M1/00 | 分类号: | H02M1/00;H02M7/48;H05K7/20 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 金春实 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 冷却 装置 | ||
1.一种半导体冷却装置,具备:具有安装了构成相互可独立运转的两个逆变电路的第1及第2半导体元件组的第1及第2元件安装面的一个受热块;以及被连接到上述受热块上的散热部,其特征在于:
上述第1及第2元件安装面被设置在同一面内。
2.一种半导体冷却装置,具备:具有安装了构成相互可独立运转的两个逆变电路的第1及第2半导体元件组的第1及第2元件安装面的一个受热块;以及被连接到上述受热块上的散热部,其特征在于:
上述第1及第2元件安装面被设置成表里关系。
3.按照权利要求2所述的半导体冷却装置,其特征在于:
上述受热块呈角筒状形成,并且其一个侧壁的外面被作为上述第1元件安装面,而与上述侧壁对置的侧壁的外面被作为上述第2元件安装面,上述散热部由被连接在上述两侧壁的内面间的片组成。
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