[发明专利]低温温度元件校准方法有效

专利信息
申请号: 200810177312.4 申请日: 2008-11-14
公开(公告)号: CN101738271A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 崔文德;王文革;李铁鹏 申请(专利权)人: 北京航天计量测试技术研究所
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅
地址: 100076 北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 低温 温度 元件 校准 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于温度元件校准领域,具体涉及一种低温温度元件校准方法。

背景技术

低温温度温度元件——感温元件低温标定是在低温恒温器中完成。低温恒温器的冷源有两种,78K以上温区使用液氮作冷源,4.2K~80K温区使用液氦作冷源。低温恒温器芯子结构见图1。低温恒温器由于使用昂贵的液氦,并且液氦的潜热和汽化热相对较小,因此为了减少冷源消耗,低温恒温器体积设的都较小,其有效使用空间也较小。元件的测量引线是绕制在低温恒温器芯子内,并且大面积粘贴在金属表面上,使测量引线与低温恒温器芯子间的绝缘电阻大大降低。这种结构是考虑到测量引线漏热和绝缘电阻等因素,综合考虑后的结构方案。低温恒温器芯子中测量引线端子一般有48个,其中4个端子用来测量标准套管铂电阻温度计,剩下的44个端子用来测量感温元件。

传统的校准测量方法如图2所示,该方法采用四线测量方式,包括如下步骤:(1)用44个端子将11只感温元件的测量引线引出后,用恒流串联法测量;(2)连接低温恒温器上的外接线端子和扫描开关系统;(3)连接恒流源、标准电阻、扫描开关、数字电压表接线;(4)液氦灌装;(5)温控仪对低温恒温器芯子中的恒温铜块进行高精度控温;(6)待恒温精度达到控温要求后,开始感温元件电阻测量。恒流源对标准电阻和元件串联电路提供恒定直流电流。高精度数字电压表分别测量标准电阻和被测元件两端电压。经计算得出被测感温元件的电阻值。

上述方法的缺点是一次实验安装感温元件数量少,一次最多安装11只,因此实验成本较高。

发明内容

本发明的目的是,提供一种提高低温感温元件校准效率、降低低温感温元件校准成本的低温温度元件校准方法。

本发明是这样实现的:

一种低温温度元件校准方法,包括如下步骤:

(1)连接感温元件;

(2)连接低温恒温器上的外接线端子和扫描开关系统;

(3)连接恒流源、标准电阻、扫描开关、数字电压表接线;

(4)液氦灌装;

(5)控温

对低温恒温器芯子中的恒温铜块进行高精度控温;

(6)测量

设置标准电阻和一只被测感温元件处于电流导通状态;分别测量标准电阻和被测感温元件两端电压;切换感温元件,从而完成每个感温元件的测量;

所述的连接感温元件的具体步骤如下:感温元件通过2个引脚同低温恒温器的恒温铜块端子连接,恒温铜块端子共48个,1~44号端子为感温元件连接端子,感温元件n的一个引脚同n+1号端子连接,另一个引脚同n+2号端子连接;其中,n为大于1且小于41的自然数;标准套管铂电阻温度计接45~48号端子;恒温铜块端子同低温恒温器上的外接线端子为一一对应关系;

所述的连接低温恒温器上的外接线端子和扫描开关系统的具体步骤如下:外接线端子n号、n+1号、n+2号、n+3号对应于扫描开关第n通道,其中,n大于1且小于42的自然数。

如上所述的测量步骤中,调整扫描开关,使恒流源电流Is流经标准电阻、第n条引线、第n-1只感温元件、第n只感温元件、第n+1只感温元件以及第n+3条引线;

第n只元件的阻值为:

Rn=(Vrn/VS)·RS             (1)

式中:Rn--第n只感温元件内阻;

Vrn--第n只感温元件两端电压;

RS—标准电阻;

VS--标准电阻两端电压;

n--大于1小于41的自然数。

本发明的有益效果是:

在低温恒温器芯子里安装41只感温元件,比传统测量方法多出30只,安装数量提高了将近3倍。这样,在液氦消耗量基本相当的情况下,使用该方法,可以提高校准效率约3倍,成本可以降低75%。

附图说明

图1是现有的低温恒温器芯子结构示意图;

图2是现有的校准测量方法测量原理图;

图3是本发明的一种低温温度元件校准方法的原理图;

图4是本发明的一种低温温度元件方法的第1只元件测量原理图

图5是本发明的一种低温温度元件方法的第n只元件测量原理图。

图中:1.外接线端子,2.低温液体容器,3.热锚,4.测量引线,5.元件和标准温度计,6.恒温铜块。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明的一种低温温度元件校准方法进行介绍:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天计量测试技术研究所,未经北京航天计量测试技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810177312.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top