[发明专利]能够进行高精度的缺陷像素修正处理的摄像装置

说明书

相关申请的交叉引用

本申请基于并要求于2007年4月27日申请的在先日本专利申请No.2007-119929的优先权，其整体内容在此包括作为参考。

技术领域

本发明涉及摄像装置。更详细地说，涉及在照相机的手机、数码相机和摄像机等中使用的CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor：互补金属氧化半导体)型图像传感器。

背景技术

通常，图像传感器容易产生在制造过程中引起的白斑和黑斑。在使用了这种图像传感器的、RGB成对排列的单板照相机中，作为修正斑点像素信号的方法，已知有使用介质滤波器处理的置换处理(例如，特开2006-238060号公报(例如参见日本专利申请KOKAI公开No.2006-238060)或者特开平9-247548号公报(例如参见日本专利申请KOKAI公布No.09-247548))。该方法不使用存储器，而是实时地对斑点像素的信号进行修正。另外，到现在为止提案有在使用斑点像素周围的周围像素的平均值来置换斑点像素信号的方法(例如，特开2004-112736号公报(参见例如，日本专利申请KOKAI公开No.2004-112736)或者使用周围像素的最大值(最大电平信号)或最小值(最小电平信号)来置换斑点像素信号的方法(例如，特表2005-528857号公报(例如参见日本专利PCT申请公开No.2005-528857)。

但是，在上述方法的情况下，任何一个都无法辨别斑点像素是纵向图像模式中的斑点像素还是横向图像模式中的斑点像素。因此，或者是通过介质滤波器处理使用周围同色8个像素信号的中间值(中间电平信号)置换斑点像素的信号，或者是使用周围同色8个像素信号中的最大值或最小值来进行置换，或者，使用上下或者左右同色的2个像素的信号的平均值进行置换。所以，存在斑点像素解析度恶化，在图像模式的端部(边缘部分)容易发生误修正的问题。

发明内容

根据本发明的第一方面，提供了一种摄像装置，二维地配置了由光电变换元件构成的多个像素，对于由滤波器排列以矩阵2×2为基本排列的摄像部分别输出的图像信号，通过斑点修正电路实施规定的信号处理，所述摄像装置的特征在于：所述斑点修正电路包括：模式提取电路，依据所述图像信号中邻接判定像素的邻接像素的信号和分别与所述邻接像素接近并与所述邻接像素同色的周围像素的信号，提取图像模式信息；和置换电路，根据与所述图像模式信息相对应的、分别接近所述判定像素并与所述判定像素同色的周围像素的信号，置换所述判定像素的信号。

附图说明

图1是表示根据本发明第1实施例的摄像装置(CMOS型图像传感器)的构成例的框图。

图2A和2B是表示用于说明图1所示的CMOS型图像传感器中的斑点修正电路的邻接像素模式提取电路的动作的图。

图3A和3B是表示用于说明图1所示的CMOS型图像传感器中的斑点修正电路的斑点像素置换处理电路的动作的图。

图4A和4B是表示用于说明根据本发明第2实施例的邻接像素模式提取电路的动作的图。

图5A和5B是表示用于说明根据本发明第2实施例的斑点像素置换处理电路的动作的图。

图6是表示用于说明根据本发明第3实施例的斑点像素置换处理电路的动作的图。

图7A和7B是表示用于说明根据本发明第4实施例的邻接像素模式提取电路的动作的图。

图8是表示用于说明根据本发明第5实施例的邻接像素模式提取电路的动作的图。

图9是表示用于说明根据本发明第5实施例的斑点像素置换处理电路的动作的图。

图10是表示用于说明根据本发明第6实施例的邻接像素模式提取电路的动作的图。

图11是表示用于说明根据本发明第6实施例的斑点像素置换处理电路的动作的图。

图12是表示用于说明根据本发明第7实施例的邻接像素模式提取电路的动作的图。

图13是表示用于说明根据本发明第8实施例的邻接像素模式提取电路的动作的图。

图14是表示用于说明根据本发明第9实施例的邻接像素模式提取电路的动作的图。

图15是表示用于说明根据本发明第10实施例的邻接像素模式提取电路的动作的图。

图16是表示用于说明根据本发明第11实施例的邻接像素模式提取电路的动作的图。

图17是表示用于说明根据本发明第11实施例的邻接像素模式提取电路的另一例子的图。

图18是表示用于说明根据本发明第11实施例的邻接像素模式提取电路的进一步其他例子的图。