[发明专利]硅提纯方法及装置无效

专利信息
申请号: 200810171978.9 申请日: 2008-10-28
公开(公告)号: CN101723377A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 刘铁林 申请(专利权)人: 刘铁林
主分类号: C01B33/037 分类号: C01B33/037
代理公司: 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人: 葛强;张一军
地址: 100094 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 提纯 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种硅提纯方法,包括以下步骤:

向一装有硅粉的反应腔输入除杂气体,并对该反应腔进行抽真空,使该反应腔内的压力保持在使除杂气体可形成等离子体的范围内;

向所述反应腔输入能量,使除杂气体离化形成等离子体;以及

取出硅粉。

2.如权利要求1所述的硅提纯方法,其特征在于,所述反应腔内压力为30-60Pa。

3.如权利要求1所述的硅提纯方法,其特征在于,所述除杂气体为下列之一或多个的混合物,氯化氢、氢气、氧气、氢氟酸、氩气。

4.如权利要求3所述的硅提纯方法,其特征在于,所述除杂气体为氯化氢与氩气的混合物。

5.如权利要求1所述的硅提纯方法,其特征在于,以射频辉光放电的方式向所述反应腔内输入能量,使所述反应腔内的除杂气体形成等离子体。

6.如权利要求1所述的硅提纯方法,其特征在于,它还包括以下步骤:向所述反应腔输入除杂气体前,对所述反应腔进行抽真空至真空度为1-60Pa,持续时间为10-30分钟。

7.如权利要求1所述的硅提纯方法,其特征在于,它还包括以下步骤:将取出的硅粉熔融后重结晶并粉碎,将粉碎获得的硅粉置于一反应腔内,重复所述输入除杂气体的步骤、形成等离子体的步骤以及取出硅粉的步骤。

8.如权利要求1所述的硅提纯方法,其特征在于,所述硅粉的颗粒大小为60-400目。

9.一种硅提纯装置,包括一密封反应腔,其特征在于,它还包括一除杂气体输入端口,通过其向所述反应腔内输入除杂气体,一抽真空端口,通过其将所述反应腔抽真空,以及一能量输入装置,用于向所述反应腔输入能量,使所述反应腔内的除杂气体形成等离子体。

10.如权利要求9所述的硅提纯装置,其特征在于,所述能量输入装置为一射频辉光放电装置。

11.如权利要求9所述的硅提纯装置,其特征在于,被处理硅粉置于所述除杂气体输入端口与抽真空端口之间。

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