[发明专利]准分子灯有效
申请号: | 200810169268.2 | 申请日: | 2008-10-10 |
公开(公告)号: | CN101409206A | 公开(公告)日: | 2009-04-15 |
发明(设计)人: | 藤泽繁树;森本幸裕 | 申请(专利权)人: | 优志旺电机株式会社 |
主分类号: | H01J65/00 | 分类号: | H01J65/00;H01J61/35;F21V7/22 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 谢丽娜;关兆辉 |
地址: | 日本国东京*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分子 | ||
技术领域
本发明涉及一种准分子灯,其具备由二氧化硅玻璃构成的放电容 器,在夹着形成该放电容器的二氧化硅玻璃的状态下设有一对电极, 在上述放电容器的内部产生准分子放电。
背景技术
近年来,开发了例如通过将波长200nm以下的真空紫外光照射在 由金属、玻璃及其它材料构成的被处理体上,而在该真空紫外光及由 此所生成的臭氧的作用下处理被处理体的技术,例如除去附着于被处 理体的表面的有机污染物质的清洗处理技术、或在被处理体的表面形 成氧化膜的氧化膜形成处理技术,并将这些技术实用化。
作为照射真空紫外光的装置,将例如通过准分子放电形成准分子 分子、并利用从该准分子分子所放射的光的准分子灯作为光源,在此 种准分子灯中,为了更有效率地放射更高强度的紫外线,进行了很多 尝试。
具体的说,例如参照图4加以说明,记载了如下准分子灯50:具 备透射紫外线的由二氧化硅玻璃构成的放电容器51,在该放电容器51 的内侧与外侧分别设有电极55、56,其中,在曝露于放电容器51的放 电空间S中的表面上,形成紫外线反射膜20。而作为紫外线反射膜, 仅由二氧化硅粒子构成、及仅由氧化铝粒子构成的紫外线反射膜被例 示于实施例中(参照专利文献1)。
在该准分子灯50中,在放电容器51的一部分,未形成紫外线反 射膜20,从而形成有出射在放电空间S内产生的紫外线的光出射部58。
根据此种构成的准分子灯50,通过在被曝露于放电容器51的放电 空间S中的表面上设有紫外线反射膜,在设有紫外线反射膜的区域中, 在放电空间S内产生的紫外线由紫外线反射膜反射,因此不会入射至 二氧化硅玻璃,而在构成光出射部58的区域中,紫外线透射二氧化硅 玻璃并放射至外部,所以基本上可以有效地利用在放电空间S内产生 的紫外线,而且可将构成光出射部58以外的区域的二氧化硅玻璃的紫 外线应变所致的损坏抑制得较小,而可防止产生裂痕的情形。
专利文献1:日本专利第3580233号公报
然而,在具备如上述的紫外线反射膜的准分子灯中,判明会产生 放电容器的轴方向上的照度分布不均匀的问题。
发明内容
本发明鉴于上述问题,其目的在于提供一种即使长时间点灯时也 可把紫外线反射膜的反射率降低的程度抑制得较小、且在放电容器的 轴方向上可得到均匀的照度分布的准分子灯。
本发明的准分子灯,包括具有放电空间的由二氧化硅玻璃构成的 放电容器,在夹着形成该放电容器的二氧化硅玻璃的状态下设有一对 电极,在上述放电容器的放电空间内产生准分子放电,其特征在于, 在上述放电容器的曝露于放电空间中的表面上,形成由二氧化硅粒子 和氧化铝粒子形成的紫外线反射膜,上述二氧化硅粒子的中心粒径的 大小为上述氧化铝粒子的中心粒径的0.67倍以上。
在本发明的准分子灯中,紫外线反射膜中的氧化铝粒子的含有比 率,优选是上述二氧化硅粒子和氧化铝粒子的合计的5wt%以上,更优 选为10wt%以上。
根据本发明的准分子灯,紫外线反射膜由二氧化硅粒子和氧化铝 粒子形成,通过使二氧化硅粒子相对于氧化铝粒子的中心粒径具有特 定大小的中心粒径,即使长时间点灯时,也不会使得粒界消失而可以 维持,因此可有效率地扩散反射真空紫外光而可维持初期反射率,而 且可将因二氧化硅粒子与氧化铝粒子的比重差所致的质量差收敛在一 定范围内,因此可使形成紫外线反射膜时调整的分散液中的二氧化硅 粒子与氧化铝粒子的流动性一致,其结果,可使紫外线反射膜成为均 匀地分散二氧化硅粒子与氧化铝粒子的状态,且相对于放电容器的轴 方向可得到均匀的照度分布。
附图说明
图1是表示本发明的准分子灯的一例的构成概略的说明用截面图, (a)是表示沿着放电容器的长度方向的截面的横截面图,(b)是表示(a)的 A-A线截面图。
图2是表示用于说明二氧化硅粒子及氧化铝粒子的粒径的定义的 说明图。
图3是表示在0~50wt%的范围内改变实验例3的准分子灯的紫外 线反射膜所含的氧化铝粒子的比率时的反射光强度的图表。
图4是表示本发明的准分子灯的其它例子的构成概略的说明用截 面图,(a)是表示沿着放电容器的长度方向的截面的横截面图,(b)是表 示(a)的A-A线截面图。
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