[发明专利]用于成像系统的曝光对中装置

权利要求书

1.一种辐射成像系统，包括：

具有可调节角度取向的辐射源；

提供校准信号并与辐射源耦合的发射器；

辐射成像探测装置，包括根据辐射源发射的辐射来记录图像的接收器；

在相对接收器的固定位置上耦合的第一传感器，其探测来自发射器的校准信号并且提供第一响应信号；

在相对接收器的固定位置上耦合的第二传感器，其探测来自发射器的校准信号并且提供第二响应信号；以及

与第一和第二传感器通信的控制逻辑处理器，用以接收第一和第二响应信号，并且还与至少一个用于指示成像探测装置相对于辐射源的校准的指示器通信。

2.如权利要求1所述的辐射成像系统，其特征在于，其中，传感器装置被装入一个可与卡盒分离的外罩内。

3.如权利要求1所述的辐射成像系统，其特征在于，其中，至少一个指示器提供声频信号。

4.如权利要求1所述的辐射成像系统，其特征在于，其中，第一响应信号是电子信号。

5.如权利要求1所述的辐射成像系统，其特征在于，其中，至少一个指示器是多个指示相对校准的LED。

6.一种用于具有辐射源和成像探测设备的辐射成像系统的校准装置，包括：

提供校准信号并适于耦合到成像系统的辐射源的发射器；

适于耦合到探测设备的第一传感器，其探测来自发射器的校准信号并且提供第一响应信号；

适于耦合到探测设备的第二传感器，其探测来自发射器的校准信号并且提供第二响应信号；以及

与第一和第二传感器通信的控制逻辑处理器，用来接收第一和第二响应信号，并且还与至少一个指示成像探测设备相对于辐射源的校准的指示器通信。

7.一种在辐射成像系统中得到对于靶的校准的方法，包括下列步骤：

a)将辐射源瞄准靶；

b)从耦合到辐射源的发射器发射校准信号；

c)检测来自发射器的校准信号并从耦合的传感器向接收器的第一侧提供第一响应信号；

d)检测来自发射器的校准信号并从耦合的传感器向接收器的第二侧提供第二响应信号；

e)根据探测第一与第二响应信号之间的定时差值计算出校准偏置；

f)根据校准偏置只是校准状态。

8.一种辐射成像系统，它包括：

a)角度取向可调节的辐射源；

b)探测第一和第二校准信号并耦合到辐射源的传感器；

c)在相对辐射接收器的固定位置上耦合的第一发射器，其发射第一校准信号；

d)在相对辐射接收器的固定位置上耦合的第二发射器，其发射第二校准信号；

e)与传感器通信的控制逻辑处理器，用以根据第一和第二校准信号的检测的相对定时计算校准；以及

f)至少一个与控制逻辑处理器通信以指示计算得到的校准的指示器。

9.一种在辐射成像系统中得到对于接收器的校准的方法，包括下列步骤：

a)将辐射源瞄准接收器；

b)从耦合到接收器的第一发射器发射第一校准信号；

c)从耦合到接收器的第二发射器发射第二校准信号；

d)在耦合到辐射源的传感器处探测第一和第二校准信号；

e)根据探测第一与第二校准信号之间的定时差值计算出校准偏置；

f)根据校准偏置指明校准状态。