[发明专利]分光光度计

说明书

技术领域

本发明涉及诸如紫外可见分光光度计、红外分光光度计和荧光分光光度计之类的分光光度计，用于对来自于有光束照射在其上或其中的样品的光进行分析，。具体而言，本发明涉及能够通过驱动波长色散元件随意设置将要照射到样品上的光的波长或来自样品的光的波长的分光光度计。

背景技术

一般而言，荧光分光光度计包括：激发分光系统，用于从光源发出的光中分离出预定波长的光，并将分离出的光作为激发光照射到样品上；荧光分光系统，用于从样品对激发光予以响应发出的荧光中分离出预定波长的光；以及荧光检测器，用于检测荧光分光系统分离出的光，并提供与所检测到的光量相对应的信号(以下将其称为“荧光信号”)。将从荧光检测器所提供的荧光信号从模拟形式转换成数字形式(即，A/D转换)，然后在数据处理器中对其进行计算，以对样品进行定性/定量分析。

激发分光系统和荧光分光系统分别包括：诸如衍射光栅或棱镜等波长色散元件；以及用于以旋转方式驱动波长色散元件的驱动单元。可以利用驱动单元适当改变波长色散元件相对于入射光的方向，使得可以随意设置激发光的波长以及荧光检测器所检测的光的波长(例如，见专利文件1)。

在这种荧光分光光度计中，驱动单元刚一转动波长色散元件或波长色散元件刚停止在预定位置时，由于波长色散元件的摆动(vibrate)，荧光信号不稳定。如果利用不稳定的荧光信号对样品进行定性/定量分析，将无法获得准确的分析结果。出于这一点，在传统荧光分光光度计中，事先设定一段衍射光栅的摆动在这段时间内最有可能收敛的时间，并将这段时间过后的荧光信号用于分析。然而，考虑到装置间的差异，必须将摆动收敛时间设置的很长，而这样做会延长从衍射光栅驱动开始到测量开始间的等待时间。

一般而言，以预定的采样间隔对来自荧光检测器的荧光信号进行A/D转换，然而将转换结果发送至信号处理器。在信号处理器中，执行预定的计算处理和利用多个数字信号的电噪声删除处理，并将处理结果供至诸如显示器和打印机等输出单元。因此，发送至信号处理器的信号数量越多，分析精度提高的程度越大。然而，在等衍射光栅摆动收敛后才开始进行测量的方法中，可获得的数据量很少。

一种用于避免这个问题的方法是，在衍射光栅摆动收敛前开始进行测量并执行计算或其他处理，以减小在衍射光栅中产生的抖动所造成的影响。然而，利用该方法，虽然可以增加可获得的数据量，但是很难彻底去除摆动所造成的影响。

可选地，可以配备用于检测衍射光栅摆动的传感器，并且只要检测到衍射光栅摆动收敛就可以立即启动数据采集操作。利用该方法，能够尽可能缩短启动测量的等待时间，并且可以增加采样数据量。然而，由于需要配备摆动检测器，产品成本有所增加。

专利文件1：日本未经审查的专利申请公开2001-83093号([0010]，图1)

发明内容

本发明的主要目的在于，提供一种能够在以旋转方式驱动波长色散元件时尽可能减小摆动影响并能够提高分析精度的分光光度计。

本发明为实现这一目的提供了一种分光光度计，包括：

a)第一光学系统，用于将光从光源传送至样品；

b)光检测器，用于检测样品发出的光；

c)第二光学系统，用于将光从样品引入至光检测器；

d)波长色散元件，配备在所述第一光学系统和所述第二光学系统中至少一个光学系统中；

e)驱动单元，用于驱动波长色散元件；

f)运算处理器，用于在驱动单元驱动波长色散元件的操作停止后，以预定采样间隔对来自光检测器的光检测信号进行采样；对采样信号进行模拟/数字(A/D)转换；以及对A/D转换后的信号执行计算处理；以及

g)摆动收敛判定器，用于根据经运算处理器处理的光检测信号，判定由驱动操作引起的产生于波长色散元件中的摆动收敛。

当驱动刚一停止后，波长色散元件发生摆动，来自光检测器的光检测信号不稳定，同波长色散元件摆动收敛后的光检测信号相比存在明显的波动。因此，可以根据光检测信号的波动程度对波长色散元件的摆动状态进行判定。然而，在这种情况下，如果在光检测信号受波长色散元件摆动的影响发生明显波动的时段和波长色散元件收敛后光检测信号稳定的时段，将光检测信号(模拟信号)的采样间隔设置为同样的间隔，那么可能无法通过经A/D转换后的信号了解波长色散元件的摆动状态，而且A/D转换后的信号处理速度可能变慢。