[发明专利]测试治具及应用该测试治具的点灯测试机台

说明书

技术领域

本发明与测试治具有关，特别是关于一种用以固定待测试平板型组件的测试治具，以及液晶面板的点灯测试机台。

背景技术

平板型态的光学组件(例如液晶面板、玻璃基板)于制作完成后，必须经过检测，以了解光学组件是否存在缺陷，并进行进一步的修补作业。

以液晶面板为例，检测液晶面板缺陷时，是先对液晶面板输入测试信号，使其像素作动呈现色彩。接着以背光照射基板，通过缺陷检测装置逐一观察各像素是否良好，此一过程称为点灯测试(Light-on Test)。若发现像素存在缺陷而呈现亮点状态，则需进一步加以标记，移动至激光修补机底下，并以激光进行修补、消除亮点。

参阅图1及图2所示，为现有技术中用于点灯测试的测试治具，用以承载并测试待测试的面板。此一测试治具包含基座1和承载板2。基座1包含一框架3，且框架3环绕形成一容置空间4。透明承载板2对应于容置空间4设置。承载板2上具备多个气孔5，其可吸气而吸附被承载于其上的面板，以固定面板于一预定位置。背光源6及缺陷检测装置(图未示)分别移动于基座1的上方及下方，其中背光源6由面板背侧投射背光穿透面板的像素，而缺陷检测装置则由面板正面观察每一像素是否正确作动。

由于背光需穿透面板，因此承载板2必须以透明材料制作，才能让背光通过并穿透面板。因此，承载板2的材料选择受到限制，无法自由地选择刚性相对较大的材料制作承载板2。当承载大尺寸面板时，承载板2将无法承受重力而向下凹陷，进而致使面板承受不当的弯折应力。

参阅图3所示，为了固定面板，承载板2上必须开设气孔5。当光线通过透明气孔时因穿透率及折射率影响，会致使面板7对应于气孔周围的区域，形成环状的阴影区2a，位于此一阴影区2a中的像素，会被阴影区2a干扰而不易进行观察，影响自动化机台或人员判断像素的结果。若缺陷刚好位于阴影区2a内，则缺陷亦将无法被检测并进行修补，导致经过点灯测试并经修补后的面板，仍会出现亮点或像素作动不正常等缺陷。

发明内容

鉴于上述问题，本发明提出一种测试治具，藉以避免测试治具本身干扰面板的测试，避免面板破损，同时又可改善对面板的支撑，避免面板承受不当应力。

为了达成上二述目的，本发明提出一种测试治具，应用于一点灯测试机台，应用于一点灯测试机台，以固定待测试的基板，例如：液晶面板、或玻璃基板。测试治具包含基座、多个驱动单元、多个移动块、一气体泵浦装置和一气管。基座包含一框架，且框架围绕形成一容置空间。驱动单元配置于框架上，各驱动单元可个别移动于框架上。移动块对应于容置空间设置，用以承载待测试的面板。各移动块分别受对应的各驱动单元所驱动，而可个别移动于容置空间上。各该移动块则另包含一气孔，该气体泵浦装置通过该气管与该气孔连接，且该气体泵浦装置包含真空泵浦和吹气泵浦。当面板进行点灯测试时，移动块之任一可个别移动，以脱离检测的区域，而其它移动块仍持续承载该面板，避免移动块影响其所接触的面板区域的检测作业，并且，真空泵浦提供负压，各气孔吸气产生真空负压吸引该面板，以固定该面板于移动块上。当特定的移动块移动离开面板的待检测区域下方时，吹气泵浦提供正压，使该移动块的气孔喷出气流，并于面板与移动块之间形成气垫或间隙，藉以避免移动块摩擦面板而导致面板破损。

依据前述的测试治具，本发明提出一种点灯测试机台，用以对一液晶面板进行点灯测试，包含移动平台、背光源、测试治具与缺陷检测装置。背光源、测试治具与缺陷检测装置皆配置于移动平台上，且可进行相对移动。测试治具用以承载并固定待测试的面板，背光源用以投射背光穿透面板，以供缺陷检测装置观察背光穿透区域是否存在缺陷。通过背光源、测试治具与缺陷检测装置的相对移动，完成面板的检测。本发明的测试机台包含一激光修补装置，电性连接于缺陷检测装置，且与缺陷检测装置共同移动，藉以检测出缺陷时立刻修补缺陷。

本发明更提出一种面板缺陷的点灯测试方法，是先提供一基座，此一基座具备框架及容置空间，其中框架环绕容置空间。接着提供多个移动块，对应于容置空间设置，并使移动块可个别移动于容置空间中。将面板置放于移动块上，提供背光源自面板的背侧提供背光照射面板，同时通过缺陷检测装置观察面板上背光源照射区域是否存在缺陷，并逐步调整缺陷检测装置及基板的相对位置，使缺陷检测装置检测面板所有区域。在缺陷检测装置移动至移动块承载的面板部分上方时，将该移动块平行于该面板的表面移动，使其离开面板的待检测部分，以使背光源的光线穿透面板，供缺陷检测装置进行检测。