[发明专利]光纤电压测量仪

权利要求书

1.一种光纤电压测量仪，包括有光源(1)、光环形器(2)、第一光耦合器(4a)，其特征在于：还设置有光纤Bragg光栅(3)、传感探头(11)、第一光电探测器(8a)和第二光电探测器(8b)以及微处理器(9)；其中，光源(1)、光环形器(2)、光纤Bragg光栅(3)通过导光用单模光纤(10)依次相连；光环形器(2)还通过导光用单模光纤(10)连接第一光耦合器(4a)；第一光耦合器(4a)的一路输出通过导光用单模光纤(10)连接第一光电探测器(8a)，另一路输出通过导光用单模光纤(10)连接传感探头(11)的输入端；传感探头(11)的输出端通过导光用单模光纤(10)连接第二光电探测器(8b)；所述的第一光电探测器(8a)和第二光电探测器(8b)的另一端分别连接微处理器(9)。

2.根据权利要求1所述的光纤电压测量仪，其特征在于，所述的传感探头(11)包括有：第二光耦合器(4b)、偏振控制器(5)、压电陶瓷(6)及高双折射光子晶体光纤(7)，其中：第二光耦合器(4b)的输入端通过导光用单模光纤(10)连接第一光耦合器(4a)的一路输出；第二光耦合器(4b)的一路输出通过导光用单模光纤(10)连接偏振控制器(5)，偏振控制器(5)又通过导光用单模光纤(10)连接高双折射光子晶体光纤(7)；第二光耦合器(4b)的另一路输出通过导光用单模光纤(10)直接连接高双折射光子晶体光纤(7)；而所述的高双折射光子晶体光纤(7)侧向粘贴在压电陶瓷(6)的表面；与第二光耦合器(4b)输入端同侧的另一端透射信号通过导光用单模光纤(10)连接第二光电探测器(8b)。

3.根据权利要求1所述的光纤电压测量仪，其特征在于，所述的电压测量是通过对压电陶瓷(6)施加被测电压，导致其长度的变化从而引起高双折射光子晶体光纤(7)环镜干涉谱的变化。

4.一种权利要求1或2所述的光纤电压测量仪的应用，其特征在于，当将压电陶瓷(6)换成绕有通电螺线管的磁致伸缩棒，并将高双折射光子晶体光纤(7)侧向粘贴于磁致伸缩棒的表面，通过观察螺线管内电流改变时高双折射光子晶体环镜透射谱的漂移，用于对电流参量进行测量。

5.一种权利要求1或2所述的光纤电压测量仪的应用，其特征在于，当除去压电陶瓷(6)，将高双折射光子晶体光纤(7)部分包层腐蚀使其快慢轴间折射率差对外界折射率变化敏感，将此部分高双折射光子晶体光纤(7)浸没于被测液体内，并观测高双折射光子晶体光纤环镜透射光谱的变化，用于测量液体折射率和具有相应折射率液体所对应的物理量、化学量。