[发明专利]差示扫描量热仪用纤维定长样品盘芯与样品盘无效

专利信息
申请号: 200810151893.4 申请日: 2008-09-27
公开(公告)号: CN101368919A 公开(公告)日: 2009-02-18
发明(设计)人: 吴世臻;赵永男;肖长发 申请(专利权)人: 天津工业大学
主分类号: G01N25/00 分类号: G01N25/00
代理公司: 天津佳盟知识产权代理有限公司 代理人: 廖晓荣
地址: 300160*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 扫描 量热仪用 纤维 定长 样品
【说明书】:

技术领域

本发明涉及测试仪器技术,具体为一种检测纤维和薄膜材料性能所使用的差示扫描量热仪(DSC)用纤维定长样品盘芯与样品盘,国际专利主分类号拟为Int.CI.GOIN.1/00(2006.01)I.

背景技术

热分析是对纤维和薄膜材料的结构与性能研究的重要手段。差示扫描量热仪是热分析使用的主要仪器。一方面,在常规的DSC测定中,是将被测纤维(或薄)膜剪碎后放入差示扫描量热仪的样品盘中进行测试。在这种测试方法中,被测纤维直接放在样品盘中,没有固定,处于松弛和无约束状态,因此在测试的升温过程中,被测纤维会发生热收缩,使纤维中的大分子发生解取向。另一方面,在纤维及其加工工艺的实际研究和应用中,纤维(或薄膜)在定长状态下的热性能研究也是一项非常重要的内容。但所述现有技术的DSC测试方法(样品盘)不能很好地完成这样的任务,影响了纤维在定长状态下热性能的分析研究。

发明内容

针对现有技术的不足,本发明要解决的技术问题是,设计一种差示扫描量热仪用纤维定长样品盘芯与样品盘,该纤维定长样品盘芯与样品盘结构简单,成本低廉,使用方便,适于做定长DSC检测。

本发明解决所述样品盘芯技术问题的技术方案是:设计一种差示扫描量热仪用纤维定长样品盘芯,其特征在于该纤维定长样品盘芯为两块圆盘板之间夹有圆柱体芯轴的整体构件,其断面为“工”字形、并开有中心孔;所述圆盘板的外径为6-8mm,厚度为0.5-1.5mm;所述圆柱体芯轴的外圆直径为1.5-5mm;所述中心孔的直径为1-4mm,盘芯的整体高度为2-5mm。

本发明解决所述样品盘技术问题的技术方案是:设计一种差示扫描量热仪用纤维定长样品盘,其特征在于该样品盘与本发明所述的样品盘芯配套设计,样品盘为圆形槽盘,断面为“U”字形,样品盘的内壁高度为2-5mm,底盘的内径为6-8mm,且样品盘的内壁高度和底盘的内径分别与本发明所述盘芯的高度和圆盘板的外径一致配合。

与现有技术相比,本发明新设计了纤维定长样品盘芯与样品盘,其结构简单,使用方便,制造容易,成本低廉,特别适用于纤维或薄膜在定长状态下采用差示扫描量热仪等进行热分析时使用。

附图说明

图1为本发明差示扫描量热仪用纤维定长样品盘芯一种实施例的主视结构示意图;

图2为本发明差示扫描量热仪用纤维定长样品盘芯一种实施例的俯视结构示意图;

图3为本发明差示扫描量热仪用纤维定长样品盘一种实施例的主视结构示意图;

图4为本发明差示扫描量热仪用纤维定长样品盘一种实施例的俯视结构示意图;

图5为本发明差示扫描量热仪用纤维定长样品盘芯与样品盘一种实施例的组合结构示意图;

图6为采用本发明差示扫描量热仪用纤维定长样品盘芯和样品盘制样得到的DSC曲线(曲线B)与常规方法制样得到的DSC曲线(曲线A)效果对比图。

具体实施方式

下面结合实施例及其附图进一步叙述本发明:

本发明设计的差示扫描量热仪用纤维定长样品盘芯(以下简称盘芯,参见图1、2、5),其特征在于该纤维定长样品盘芯为(上下)两块圆盘板1(1’)之间夹有圆柱体芯轴2的整体构件,其断面为“工”字形、并开有中心孔3;所述圆盘板1的外径为5-8mm,厚度为0.5-1.5mm;所述圆柱体芯轴2的外圆直径为1.5-5mm;所述中心孔3的直径为1-4mm,中心孔3的高度(也是盘芯的整体高度)或深度为2-5mm。

本发明盘芯可以采用铝、铜、不锈钢等金属材料或陶瓷材料制造。实施例优选不锈钢材料和陶瓷材料。本发明盘芯虽设计为整体结构,但完全可以采用组配结构,例如采用两块圆环板,其中心套装圆柱体空芯管的装配结构。采用哪种结构既与芯盘的使用材料有关,也与使用材料的加工方法有关。选用原则以加工容易,成本低廉为依据。

本发明同时设计有与本发明所述盘芯配套的差示扫描量热仪用纤维定长样品盘(参见图3、4、5)。该样品盘与本发明所述的样品盘芯配套设计,样品盘为圆形槽盘,断面为“U”字形,样品盘内壁4的高度为2-5mm,样品盘底盘5的内径为5-8mm,且样品盘内壁4的高度和底盘5的内径分别与本发明所述盘芯的(整体)高度和所述圆盘板1(1’)的外径一致配合。尽管差示扫描量热仪本身也带有样品盘,但其与本发明的样品盘配套性差。虽然本发明所述的盘芯也可以与DSC自带的样品盘组合使用,但其测试效果尚达不到本发明样品盘芯与样品盘配套组件所能达到的效果。

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