[发明专利]一种用于研究平板结构热障涂层界面屈曲破坏的热障涂层试样的制备工艺

权利要求书

1、一种用于研究平板结构热障涂层界面屈曲破坏的热障涂层试样的制备工艺，其特征在于，按如下步骤进行：

第一步 将合金金属基体(1)进行增强粗糙度的前处理；

第二步 采用等离子喷涂方式喷涂粘结层(2)粉末材料，在基体(1)上形成粘结层(2)，并制得第一基体；

第三步 采用等离子喷涂方式制备预制界面缺陷

将经第二步制得的所述第一基体进行适当的表面毛化处理，然后用软材质耐高温金属薄片或耐高温胶带(3)紧紧缠住第一基体两端，仅仅露出中间一小部分粘结层，获得第二基体；其中露出的粘结层(2)宽度代表了界面缺陷长度a；再对第二基体喷涂Al₂O₃粉末材料，在第二基体上形成Al₂O₃薄层(4)，并制得第三基体；

第四步 采用等离子喷涂工艺制备陶瓷层

将经第三步制得的所述第三基体去除缠在两端的耐高温金属薄片或耐高温胶带(3)，然后利用等离子喷涂工艺制备陶瓷层(5)，最终得到热障涂层实验试样。

2、根据权利要求1所述的一种用于研究平板结构热障涂层界面屈曲破坏的热障涂层试样的制备工艺，其特征在于，第二步中制得粘结层(2)厚度为80～120μm的第一基体；粘结层(2)粉材是粒度为50～80μm的NiCrAlY。

3、根据权利要求1所述的一种用于研究平板结构热障涂层界面屈曲破坏的热障涂层试样的制备工艺，其特征在于，第三步中界面缺陷长度a可以人为地设定为：a＝1mm、2mm、3mm、4mm、6mm、8mm、10mm或其它数值。

4、根据权利要求1所述的一种用于研究平板结构热障涂层界面屈曲破坏的热障涂层试样的制备工艺，其特征在于，在第三步的第三基体上Al₂O₃薄层的厚度为1～5μm，Al₂O₃粉材的粒度为30～50μm。

5、根据权利要求1-4任一项所述的一种用于研究平板结构热障涂层界面屈曲破坏的热障涂层试样的制备工艺，其特征在于，陶瓷粉材的粒度为30～70μm，其成分是含6～8wt％Y₂O₃的ZrO₂。

6、根据权利要求5任一项所述的一种用于研究平板结构热障涂层界面屈曲破坏的热障涂层试样的制备工艺，其特征在于，热障陶瓷涂层的厚度为100～400μm。