[发明专利]新型EMI(电磁屏蔽)产品压缩力测试方法--拐点判定法

说明书

所属技术领域

本发明涉及一种EMI(电磁屏蔽)产品的压缩力测试新方法。

背景技术

目前，EMI产品的压缩力测试通用方法是通过测量产品的原始高度、计算产品压缩量然后通过测试仪绘制的压缩力与压缩量的测试数据二维坐标图(其中压缩量为横坐标，压缩力为纵坐标)得到。这样的产品压缩力测试方法存在诸多缺点：如，产品的变形、软件里入口力的设置、产品原始高度的测试误差对测试结果都会产生很大的影响。

发明内容

为了解决目前EMI产品的压缩力测试所存在的以上诸多缺点，本发明提供一种新型的压缩力测试方法，该测试方法可以完全消除以上三个因素对测试结果的影响，从而大幅提高压缩力测试结果的精确度和准确性。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：增加一个测试槽，槽的深度可调整至客户所需的测试压缩深度要求；每一次测试，产品需先放在该槽中，然后使力传感器压缩至槽的顶部；由于力传感器压缩至槽的顶部时，压缩量不变，而压缩力急剧增加；所以在测试仪所绘制的压缩量-压缩力二维坐标图中(压缩量为横坐标，压缩力为纵坐标)，会出现一个明显的突然急剧上升的拐点，而该拐点的纵坐标值就是测试所需的最终结果数值，这就是拐点判定法(如图1).

拐点判定法优于普通测试方式的基本原理说明：入口力是一个软件开始采点的信号。在测试过程中，当压缩力值到达入口力值时，软件对压缩量(横坐标)清零并以此位置为零点开始采点绘图。通用方法是利用二维坐标图通过计算压缩量(横坐标值)来获取压缩力(纵坐标)值，EMI产品具有良好的弹性，当力传感器对其施压至入口力时，其已经被压缩了一定的压缩量，而软件把此时压缩量作为零点，必然导致压缩量的定位偏差，压缩量定位偏差则必然导致最终压缩力值偏差；样品变形后，形状会有一定的弯曲，当其被压缩至入口力时，样品弯曲部分与测试平台依然会有空隙，软件再此时清零采点也不然会导致压缩量的定位偏差，所得最终压缩力值也必然会有偏差；EMI产品具有良好的弹性，这给其高度的精确测量带来很大的困难，高度的测量误差同样会导致二维坐标图中压缩量(横坐标)的定位不准，进而导致压缩力(纵坐标)的值偏差。本发明可以直接测试出样品被压缩至规定高度后的实际压缩力，不通过定位压缩量(横坐标)来获取压缩力(纵坐标)，压缩力的定位偏差对本方法没有丝毫影响，因此可以从根本上完全避免以上3种因素的影响，从而大幅提高测试结果的精确度和准确性。

附图说明

下面结合附图和实施例对本使用新型进一步说明。

附图中：

图1力-位移曲线图

图2案例①导电泡棉普通测试方法二维图

图3案例①导电泡棉拐点判定法二维图

图4案例②簧片普通测试方法二维图

图5案例②簧片拐点判定法二维图

图6拐点判定法测试平台①力传感器②连接于力传感器的夹具③测试槽④测试平台

图7测试槽⑤测试槽⑥产品

具体实施方式：

如图6、7在测试平台④上增加一个测试槽③，槽的深度满足客户所需的测试压缩深度要求；每一次测试，产品⑥需先放在测试槽③中，然后使力传感器1压缩至测试槽③的顶部。

实施例一：新的测试方法——拐点判定法消除软件入口力对测试结果的影响。

取50mm长EMI导电泡棉D04产品，产品高度为3.6mm，设置压缩量1.6mm。采取通用测试方法，设置不同入口力。测试结果如图2：

测得数据如下表所示：