[发明专利]磁性质轴承套圈残余奥氏体测量仪无效
申请号: | 200810137300.9 | 申请日: | 2008-10-13 |
公开(公告)号: | CN101726534A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 庞军;张永吉;勇泰芳;赵开礼 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨轴承集团公司 |
主分类号: | G01N27/72 | 分类号: | G01N27/72;G01R33/02 |
代理公司: | 哈尔滨市哈科专利事务所有限责任公司 23101 | 代理人: | 刘娅 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁性 轴承 残余 奥氏体 测量仪 | ||
(一)技术领域
本发明涉及磁特性测量技术,具体涉及一种轴承套圈残余奥氏体测量技术。
(二)背景技术
目前,采用饱和磁化强度法测量零件中的残余奥氏体存在的技术不足及缺陷是仅能对圆柱形长条试样进行测试,对轴承套圈在不改变其外形的条件下采用传统的饱和磁化强度方法不能测试。
(三)发明内容
本发明的目的在于提供一种设计合理,能够解决采用饱和磁化强度方法不能测试轴承套圈中残余奥氏体量难题的磁性质轴承套圈残余奥氏体测量仪。
本发明的目的是这样实现的:它包括产生磁力线的磁化装置、垂直于磁力线的测量线圈和连接测量线圈的数字式磁通表,被测套圈的端面与磁力线平行设置。
轴承套圈热处理后的残余奥氏体量的多少对轴承的尺寸稳定性、使用寿命有十分重要的影响,如果能及时准确无损的方法测量出轴承套圈中的残余奥氏体量,对提高轴承的尺寸稳定性、使用寿命和减少热处理废品有十分重要的作用。本发明通过磁化装置将轴承套圈饱和磁化,并迅速通过连接有磁通量测试仪器的线圈,测量出磁通量,并通过理论推导出的修正公式计算出套圈中的残余奥氏体量。
本发明通过采用相同的热处理工艺处理的套圈和圆柱形长条试样在磁化装置上进行测试,结果相同。说明该仪器设计合理,解决了采用饱和磁化强度方法不能测试轴承套圈中残余奥氏体量的难题。
(四)附图说明
图1为本发明的结构示意图。
(五)具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步的说明:
结合图1,本实施例包括产生磁力线1的磁化装置、垂直于磁力线1的测量线圈3和连接测量线圈3的数字式磁通表4,被测套圈2的端面与磁力线1平行设置。
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