[发明专利]检测有价证券光学特征的光检测装置

说明书

本申请是申请日为2003年12月26日、标题为“检测有价证券光学特征的光检测装置”的中国专利申请200380109261.7(PCT/JP2003/017006)的分案申请。

技术领域

本发明涉及检测有价证券多个光学特征的光检测装置，例如，票据，它借助于有价证券上反射或透射的多个光束以提高有价证券的验证性能。

背景技术

例如，Japanese Patent Disclosure No.62-111376公开一种光学方法验证票据的系统，它借助于其中有两个发光二极管芯片的单个光发射元件同时辐射可见光和红外线以减小现有技术系统中所使用的光发射元件数目，可以从这些光发射元件中独立地辐射可见光和红外线。

在另一方面，Japanese Patent Publication No.54-26400提出一种货币验证装置，它可以在预定的范围内测试可见光与红外线的反射比或透射比。这种装置包括：产生可见光和红外线的光源或发光二极管，从这些光源中接收每个光束的光接收元件，检测两个光源发射强度比的比较器，和控制器，用于调整两个光源中一个光源的发射量，从比较器总是得到恒定的比率。在这个装置中，利用没有任何限制的恒定电流自由地接通一个发光二极管，而以恒定的发射强度比接通另一个发光二极管，可以保持可见光与红外线之间的发光量比率，有利的是，我们不需要使可见光和红外线的绝对强度保持在恒定值上。

然而，在某些情况下，鉴别器不能准确地验证票据，这是由于没有从票据取出足够的不同光学特征量。此外，由于常规的光传感器利用组合光发射和接收元件的光耦合器，为了提高验证准确性增加的光传感器数目占有鉴别器中很大的面积，从而导致有较大尺寸的传感器结构并妨碍光扫描票据上的目标区。

因此，本发明的目的是提供一种检测有价证券多个光学特征的光检测装置，它具有改进的验证性能。本发明的另一个目的是提供一种小尺寸或紧致结构的光检测装置，可以检测有价证券的多个光学特征。本发明的另一个目的是提供这样一种光检测装置，借助于较少数目光发射和接收元件，可以得出多个光扫描图形以提高票据验证的准确性。本发明的另一个目的是提供这样一种光检测装置，借助于照射到有价证券上相同扫描线或扫描区的多个不同波长光束，可以拾取有价证券上印制不同颜色的光学图形。本发明的另一个目的是提供这样一种光检测装置，它可以利用价廉的光发射和接收元件以降低制造成本。

发明内容

按照本发明检测有价证券多个光学特征的光检测装置包括：放置在通道(13)邻近和相对两侧用于引导有价证券的第一光耦合器(5或9)和第二光耦合器(6或10)。第一光耦合器(5或9)和第二光耦合器(6或10)中的每个光耦合器有发射光束的光发射元件(20，22，30，32)，和在光发射元件(20，22，30，32)邻近的光接收元件(21，23，31，33)，用于有选择地从光发射元件(20，22，30，32)接收光束，因此，每个光接收元件(21，23，31，33)可以接收有价证券上反射和透射的光束，用于检测有价证券的多个光学特征；借助于较少数目的光发射和光接收元件，可以得出多个光扫描图形以提高有价证券验证的准确性；借助于照射到有价证券的相同扫描线或扫描区上多个不同波长光束，可以拾取有价证券上印制不同颜色的光学图形；并可以利用价廉的光发射和接收元件以降低制造成本。

附图说明

根据以下结合附图所示优选实施例的描述，本发明的上述和其他目的和优点是显而易见的，其中：

图1是现有技术票据验证器的剖面图。

图2是有按照本发明光检测装置的票据验证器剖面图。

图3是图2所示票据验证器的顶部框架平面图。

图4是图2所示票据验证器的底部框架平面图。

图5是光检测装置的前部组件剖面图。

图6是光检测装置的后部组件剖面图。

图7是光检测装置的放大平面图。

图8是票据验证器的电路图。

图9是另一个实施例光检测装置的前部组件剖面图。

图10是图9所示光检测装置的后部组件剖面图。

图11是另一个实施例中图7所示光检测装置的放大平面图，其中省略光接收元件。

图12是图11所示三重组件的分解透视图。

图13是图11所示五重组件的分解透视图。

图14是图11所示另一个三重组件的分解透视图。

具体实施方式