[发明专利]半导体芯片收容托盘有效

专利信息
申请号: 200810135518.0 申请日: 2008-08-19
公开(公告)号: CN101373725A 公开(公告)日: 2009-02-25
发明(设计)人: 田村良平;进藤知幸;太田浩则;矢泽和夫 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H01L21/673 分类号: H01L21/673;B65D85/86;B65D21/032;B65D19/24;H05K13/02
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 章社杲;吴贵明
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 芯片 收容 托盘
【权利要求书】:

1.一种半导体芯片收容托盘,在层叠有多个的状态下使用,并且 每个所述半导体芯片收容托盘收容多个半导体芯片,所述半导 体芯片收容托盘包括:

底板;

多个表面凸部,设置在所述底板的表面,用于将所述底 板的表面分成多个第一半导体芯片收容区域;以及

多个背面凸部,设置在所述底板的背面,用于将所述底 板的背面分成多个第二半导体芯片收容区域;

其中,所述第一半导体芯片收容区域相对于所述半导体 芯片的边缘宽度小于所述第二半导体芯片收容区域相对于所 述半导体芯片的边缘宽度,并且

在所述半导体芯片收容托盘层叠的情况下,所述多个第 二半导体芯片收容区域分别与所述第一半导体芯片收容区域 重叠,

作为所述背面凸部的一部分的第一背面凸部的下端不面 向下一层的所述半导体芯片收容托盘具有的所述多个表面凸 部的任意一个的上端,

作为所述表面凸部的一部分的第一表面凸部的上端不面 向上一层的所述半导体芯片收容托盘具有的所述多个背面凸 部的任意一个的下端,

所述第一背面凸部的下端与下一层的所述半导体芯片收 容托盘的表面之间的距离以及所述第一表面凸部的上端与上 一层的所述半导体芯片收容托盘的背面之间的距离分别小于 所述半导体芯片的厚度,并且

所述第一背面凸部的高度以及所述第一表面凸部的高度 分别大于所述半导体芯片的厚度。

2.根据权利要求1所述的半导体芯片收容托盘,其中,

所述半导体芯片的平面形状为长方形,

所述多个表面凸部包括:面向所述半导体芯片的长边侧 的侧面的多个长边用表面凸部;以及面向所述半导体芯片的短 边侧的侧面的多个短边用表面凸部,

所述多个背面凸部包括:面向所述半导体芯片的长边侧 的侧面的多个长边用背面凸部;以及面向所述半导体芯片的短 边侧的侧面的多个短边用背面凸部,

与所述长边用表面凸部中最靠近所述半导体芯片的短边 的凸部相比,所述长边用背面凸部中最靠近所述半导体芯片的 短边的凸部更靠近所述半导体芯片的短边。

3.根据权利要求1所述的半导体芯片收容托盘,其中,

所述半导体芯片的平面形状为长方形,

所述多个表面凸部包括:面向所述半导体芯片的长边侧 的侧面的多个长边用表面凸部;以及面向所述半导体芯片的短 边侧的侧面的多个短边用表面凸部,

所述多个背面凸部包括:面向所述半导体芯片的长边侧 的侧面的多个长边用背面凸部;以及面向所述半导体芯片的短 边侧的侧面的多个短边用背面凸部,

所述多个短边用背面凸部的高度以及所述多个短边用表 面凸部的高度分别小于等于所述半导体芯片收容托盘层叠时 所述半导体芯片收容托盘的背面与下一层的所述半导体芯片 收容托盘的表面之间的距离的一半,

在所述半导体芯片收容托盘层叠的情况下,所述多个短 边用背面凸部的下端分别面向下一层的所述半导体芯片收容 托盘的所述短边用表面凸部的上端。

4.根据权利要求2所述的半导体芯片收容托盘,其中,

所述半导体芯片的平面形状为长方形,

所述多个表面凸部包括:面向所述半导体芯片的长边侧 的侧面的多个长边用表面凸部;以及面向所述半导体芯片的短 边侧的侧面的多个短边用表面凸部,

所述多个背面凸部包括:面向所述半导体芯片的长边侧 的侧面的多个长边用背面凸部;以及面向所述半导体芯片的短 边侧的侧面的多个短边用背面凸部,

所述多个短边用背面凸部的高度以及所述多个短边用表 面凸部的高度分别小于等于所述半导体芯片收容托盘层叠时 所述半导体芯片收容托盘的背面与下一层的所述半导体芯片 收容托盘的表面之间的距离的一半,

在所述半导体芯片收容托盘层叠的情况下,所述多个短 边用背面凸部的下端分别面向下一层的所述半导体芯片收容 托盘的所述短边用表面凸部的上端。

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