[发明专利]分析装置、程序以及分析方法无效

专利信息
申请号: 200810134319.8 申请日: 2008-07-22
公开(公告)号: CN101398924A 公开(公告)日: 2009-04-01
发明(设计)人: 金野浩之;船木谦一 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G06Q30/00 分类号: G06Q30/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 许 静
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 分析 装置 程序 以及 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及开发与顾客的要求相对应的产品的技术。

背景技术

在开发产品时,希望开发出更加受市场欢迎的产品。

长期以来,作为根据要求支持产品开发的技术,已知通过问卷调查获得顾客的要求,决定与获得的要求相对应的产品功能的目标性能的技术(例如参照专利文献1)。

【专利文献1】特开2004-110432号公报

发明内容

现有的技术在探讨与顾客要求相对应的产品功能的性能时,在问卷调查项目中加入几个方案,根据问卷调查结果来决定功效高的性能方案。

但是,如果没有正确地设定各个要求和产品功能的对应关系,则无法满足顾客的要求。

因此,本发明的目的在于提供通过将顾客要求和产品功能对应起来,可以进行与顾客要求正确对应的产品开发的技术。

为了解决以上的课题,本发明根据对于产品的要求、应该满足该要求的价值来生成问卷调查,根据该问卷调查的结果计算出要求的强度。

例如,本发明的特征为,具有:要求关系定义部,其经由输入部接受对于产品的要求、应该满足该要求的价值、以及作为该价值的选项的值之间的关系的输入;以及要求评价部,其生成问卷调查,根据该问卷调查的集计结果计算出要求的强度,该问卷调查接受以下的选择:对于所输入的要求的组合的偏好顺序、对于输入的价值判断为满足的值以及判断为不满足的值。

如上所述,根据本发明,可以根据顾客要求、顾客要求强度、以及产品功能的对应关系,进行与顾客要求相对应的产品开发。

附图说明

图1为分析装置100的概要图。

图2为计算机180的概要图。

图3是表示分析装置100的处理的顺序图。

图4是要求输入画面160的概要图。

图5为要求节点设定画面161的概要图。

图6为链路设定画面162的概要图。

图7为关系强度选择表163的概要图。

图8为价值等级节点设定画面164的概要图。

图9为等号不等号选择表165的概要图。

图10为使用节点和链路进行输入时的图像。

图11为登录画面166的概要图。

图12为节点表121a的概要图。

图13为要求链路表122a的概要图。

图14为规格方案表123a的概要图。

图15为数据读入画面167的概要图。

图16为要求调查表167的概要图。

图17是表示生成要求调查表167的处理的流程图。

图18为L8的正交表(orthogonal array)的概要图。

图19为节点名称表125a的概要图。

图20为概况表126a的概要图。

图21为要求图形偏好表127a的概要图。

图22为偏好度表168的概要图。

图23为满足次数分布和不满足次数分布的概要图。

图24为要求节点设定画面161的概要图。

图25为要求输入画面160的概要图。

图26为元件等级节点设定画面169的概要图。

图27为价值等级选择画面170的概要图。

图28为主区域160b的概要图。

图29为元件链路表128a的概要图。

图30为价值调查表171的概要图。

图31为生成价值调查表171的处理的流程图。

图32为价格模型设定画面172的概要图。

图33为价格调查表概况表130a的概要图。

图34为元件图形偏好表131a的概要图。

图35为数量表132a的概要图。

图36为表示目标成本计算处理的流程图。

图37为表示各价格方案与它们的数量的关系的概要图。

图38为表示目标成本的显示例的概要图。

符号说明

100分析装置;110控制部;111要求关系定义部;112要求评价部;113元件关系定义部;114价值评价部;115目标成本计算部;120存储部;121节点表存储区域;122要求链路表存储区域;123规格方案表存储区域;124要求调查表存储区域;125节点名称表存储区域;126概况表存储区域;127要求图形偏好表存储区域;128元件链路表存储区域;129价格调查表存储区域;130价格调查表概况表存储区域;131元件图形偏好表存储区域;133数量表存储区域132;140输入部;150输出部

具体实施方式

图1为本发明一实施方式的分析装置100的概要图。

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