[发明专利]功能覆盖率的收集方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及软件验证技术领域，尤其涉及一种功能覆盖率的收集方法及装置。 

背景技术

功能覆盖率是度量芯片验证质量的量化指标。按照面向Implementation(实现)还是面向Specification(说明)来划分，可以将现有的功能覆盖率收集方法分为以下两种：1)面向Implementation的功能覆盖率的收集方法，例如，断言功能覆盖率的收集方法，参考模型(Reference Model，RM)功能路径覆盖率的收集方法。2)面向Specification的功能覆盖率的收集方法，例如，传统的验证规格覆盖率的收集方法。 

上述各种功能覆盖率的收集方法，分别针对不同的收集对象，借用各种有效的收集手段，从各个角度对验证空间的覆盖效果进行了描述。其中，断言功能覆盖率的收集方法是从RTL(register transfer level，寄存器传输级)实现的角度描述芯片功能的，RM功能路径覆盖率的收集方法是从参考模型实现的角度描述芯片功能，而传统的验证规格覆盖率的收集方法是从验证规格的角度描述芯片功能。 

对于实现过程比较简单的功能，直接用验证规格就可以基本完成验证空间的界定，这种情况下较多使用传统的验证规格覆盖率的收集方法；对于实现过程比较复杂的功能，仅仅站在验证规格的层面上，有很多验证细节无法提取出来，这时必须依靠对设计实现过程的分析和分解，来完成验证空间的构建，因此需要将验证规格覆盖率的收集方法，与断言功能覆盖率的收集方法或RM功能路径覆盖率的收集方法结合起来，以充分描述验证空间的范围。 

面向Implementation的功能覆盖率的收集方法，直接从编码中提取功能信息，其最直接的表现就是覆盖率定义的内容与设计实现过程强相关。这类方法的优点是，可以根据实现细节对验证空间进行充分细化，保证测试点分解的粒度达到最小化要求。 

受实际操作手段的限制，在利用断言功能覆盖率的收集方法时，验证人员往往不方便直接在RTL代码中添加断言功能覆盖率收集语句，而设计人员又没有足够的时间和精力完成断言覆盖收集。目前面向Implementation的功能覆盖率的收集方法中主要采用RM功能路径覆盖率的收集方法。 

利用RM功能路径覆盖率的收集方法，验证人员可以在自己重新开发或部分重用的参考模型代码里，根据器件功能要求，添加适当的功能路径覆盖率收集语句(探针和节点)，在回归用例的同时完成功能覆盖率收集。如图1所示，变量A、B、C及D中，变量A、B、D均可有两种取值，因此，在验证流程中可能会出现两种分支；而变量C可有三种取值，相应的就形成了三种分支。因此，在利用RM功能路径覆盖率的收集方法时，可在变量A、B、C及D相应的分支处设置探针。那么，在对该流程中各个路径的功能覆盖率进行收集的时候，按照表1中列举的方式进行。 

表1