[发明专利]液晶显示面板的检测电路与方法

说明书

技术领域

本发明是有关一种检测电路与方法，特别是一种液晶显示面板的检测电路与方法。

背景技术

液晶显示面板(LCD panel)于出厂之前，所需经过的检测过程，会随着使用不同的检测设备而需设计不同的检测电路的布线。传统上，不论是哪一种检测电路的布线，在一般面板检测完毕后，皆需采用激光切割的工艺，用以切断检测电路与面板走线，使后续IC在贴附后，不至于产生信号错误的问题。

然而，增加激光切割的工艺除了容易降低产品的产出率之外，在切割时所产生的微粒也容易污染产品。再者，还须多增加激光切割机台的采购成本。因此，已知技术中提出在检测电路中包含控制开关，于短路布线与扫描线、数据线之间加入控制开关，而在测试时让控制开关导通，待测试结束后则让控制开关断路。如此，便可以省去传统上使用激光切割的步骤，可得到更为简化的工艺与降低成本的功效。

利用控制开关虽可省略检测完毕后的激光切割工艺，然而由于液晶显示面板中具有多条扫描线与数据线，而每一条条扫描线与数据线便需连接一个控制开关，因此检测电路中需具有多个控制开关。由于检测信号是透过控制开关然后到达液晶显示面板内的条扫描线与数据线，透过检测信号而测试扫描线与数据线交集之处，用以控制各个像素(pixel)显示的薄膜晶体管(thin filmtransistor，TFT)的运作是否正常。而在控制开关为庞大的数目之下，当其中某一个或少数几个控制开关发生异常时，将使得某几个像素无法正常显示检测信号，如此容易让检测人员或检测设备判断为扫描线、数据线或TFT开关发生异常，而造成误判报废实际上功能正常的显示面板。

因此，如何改善已知技术中液晶显示面板的检测电路所衍生的问题，为一亟待解决的议题。

发明内容

有鉴于此本发明提出一种液晶显示面板的检测电路与方法。当控制开关中有某一个发生异常时，通过本发明所提出的检测电路或方法，仍可轻易完成正常的检测步骤，不会因为误判而报废功能正常的显示面板，进而提升液晶显示面板的检测效率以及产出良率。

本发明提出一种液晶显示面板的检测电路，用以检测具有多个驱动单元与多条信号线的液晶显示面板，该检测电路包含多个第一接合垫、多个第二接合垫、多个控制开关以及一连接模块。多个第一接合垫分别对应耦接信号线；多个第二接合垫耦接于至少一个测试垫；多个控制开关电连接于对应的第一接合垫与第二接合垫之间，用来传送由测试垫提供的测试信号至液晶显示面板内；连接模块配置在控制开关周围，当控制开关其中之一发生异常时，用来传送测试信号。

本发明亦提出一种液晶显示面板的检测方法，用以检测具有多条信号线的液晶显示面板，该检测方法包含下列步骤：提供多个第一接合垫，并对应耦接所述多条信号线至所述多个第一接合垫；提供多个第二接合垫，并耦接于至少一个测试垫；提供多个控制开关，并通过所述多个控制开关电连接对应的所述多个第一接合垫与所述多个第二接合垫，传送由测试垫提供的测试信号至该液晶显示面板内；以及当所述多个控制开关其中的一控制开关发生异常时，提供一连接模块取代异常的控制开关以传送该测试信号。

可见，应用本发明所述方案后，当控制开关中有某一个发生异常时，通过本发明所提出的检测电路或方法，仍可轻易完成正常的检测步骤，不会因为误判而报废功能正常的显示面板，进而提升液晶显示面板的检测效率以及产出良率。

附图说明

图1：液晶显示面板的检测电路的一实施例示意图；

图2A：连接模块电连接控制开关的第一实施例示意图；

图2B：连接模块电连接控制开关的第二实施例示意图；

图2C：连接模块电连接控制开关的第三实施例示意图；

图3：液晶显示面板的检测方法的流程图。

附图标号：

10、10’：第一接合垫

20、20’：第二接合垫

30、30’、30a、30b、30c：测试垫

40、40’、40a、40b、40c、40d、40e、40f：控制开关

42：第三端

50、50’：连接模块

52：短路线

54：备用开关

60：液晶显示面板

62：信号线

622：数据线

624：扫描线

64：驱动单元

70：控制信号垫

80：激光焊接点

具体实施方式

有关本发明的较佳实施例及其功效，现配合图式说明如后。