[发明专利]像素插值电路、像素插值方法以及记录介质有效

专利信息
申请号: 200810130146.2 申请日: 2008-07-30
公开(公告)号: CN101360248A 公开(公告)日: 2009-02-04
发明(设计)人: 坂本升平 申请(专利权)人: 卡西欧计算机株式会社
主分类号: H04N9/04 分类号: H04N9/04
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 像素 电路 方法 以及 记录 介质
【权利要求书】:

1.一种像素插值电路,具备:

相关性计算部,其在贝叶尔数据中利用R像素、G像素和B像素的各自的像素值,对不存在G像素的像素即插值对象像素的周围区域的水平方向的相关性和垂直方向的相关性进行计算;和

像素值确定部,其在由所述相关性计算部计算出的各相关性中的相关性强的方向上,基于与所述插值对象像素相邻的像素的像素值,确定插值到所述插值对象像素中的G像素的像素值;

对基于所述贝叶尔数据的图像信号插值:由所述像素值确定部确定的像素值的G像素。

2.根据权利要求1所述的像素插值电路,其特征在于,

具备:

第一基准图像生成部,其在所述插值对象像素的周围区域中,进行使用了沿水平方向相邻的像素的像素值的运算,生成第一基准图像;和

第二基准图像生成部,其在所述插值对象像素的周围区域中,进行使用了沿垂直方向相邻的像素的像素值的运算,生成第二基准图像;

所述相关性计算部,根据由所述第一基准图像生成部生成的第一基准图像计算出水平方向的相关性,并根据由所述第二基准图像生成部生成的第二基准图像计算出垂直方向的相关性。

3.根据权利要求2所述的像素插值电路,其特征在于,

所述第一基准图像生成部具备水平差分运算部,其在所述插值对象像素的周围区域,取得第一像素的像素值、与在水平方向上相邻于该第一像素的第二像素以及第三像素各自的像素值的平均值的差分值,

所述第一基准图像生成部根据由所述水平差分运算部得到的各差分值生成所述第一基准图像,

所述第二基准图像生成部具备垂直差分运算部,其在所述插值对象像素的周围区域,取得第一像素的像素值、与在垂直方向上相邻于该第一像素的第四像素以及第五像素各自的像素值的平均值的差分值,

所述第二基准图像生成部根据由所述垂直差分运算部得到的各差分值生成所述第二基准图像。

4.根据权利要求2所述的像素插值电路,其特征在于,

所述第一基准图像生成部,具备:

第一水平差分运算部,其取得R像素的像素值、与在水平方向上相邻于该R像素的G像素的像素值的平均值的差分值;

第二水平差分运算部,其取得B像素的像素值、与在水平方向上相邻于该B像素的G像素的像素值的平均值的差分值;

第三水平差分运算部,其取得在水平方向上相邻于G像素的R像素的像素值的平均值、与该G像素的像素值的差分值;和

第四水平差分运算部,其取得在水平方向上相邻于G像素的B像素的像素值的平均值、与该G像素的像素值的差分值;

并根据由所述第一~第四水平差分运算部得到的各差分值生成所述第一基准图像,

所述第二基准图像生成部,具备:

第一垂直差分运算部,其取得R像素的像素值、与在垂直方向上相邻于该R像素的G像素的像素值的平均值的差分值;

第二垂直差分运算部,其取得B像素的像素值、与在垂直方向上相邻于该B像素的G像素的像素值的平均值的差分值;

第三垂直差分运算部,其取得在垂直方向上相邻于G像素的R像素的像素值的平均值、与该G像素的像素值的差分值;和

第四垂直差分运算部,其取得在垂直方向上相邻于G像素的B像素的像素值的平均值、与该G像素的像素值的差分值;

并根据由所述第一~第四垂直差分运算部得到的各差分值生成所述第二基准图像。

5.根据权利要求4所述的像素插值电路,其特征在于,

相关性计算部,具备:

第一计算部,其计算第一相关值,该第一相关值是对由所述第一~第四水平差分运算部得到的各差分值的绝对值的每一个乘以规定的系数后得到的值的总和;和

第二计算部,其计算第二相关值,该第二相关值是对由所述第一~第四垂直差分运算部得到的各差分值的绝对值的每一个乘以规定的系数后得到的值的总和;

并根据由所述第一计算部计算出的第一相关值和由所述第二计算部计算出的第二相关值,计算出水平方向的相关性和垂直方向的相关性。

6.根据权利要求1所述的像素插值电路,其特征在于,

所述像素值确定部,在由所述相关性计算部计算出的各相关性中的相关性强的方向上,将相邻于所述各插值对象像素的像素的像素值的平均值确定为插值到所述插值对象像素中的G像素的像素值。

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