[发明专利]用微波耦合探头在流体缸中探测参数的测量装置无效

专利信息
申请号: 200810128678.2 申请日: 2008-06-23
公开(公告)号: CN101328916A 公开(公告)日: 2008-12-24
发明(设计)人: T·赖宁格;M·迈耶;L·盖斯巴什 申请(专利权)人: 费斯托股份有限两合公司
主分类号: F15B15/28 分类号: F15B15/28;G01B15/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 曹若
地址: 德国埃*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 微波 耦合 探头 流体 探测 参数 测量 装置
【权利要求书】:

1.用于探测流体缸(10)中的参数的测量装置,带有在该缸(10)的缸盖(15)内或上的微波耦合探头(24),以便把波导波输入邻接的缸室(13)及输出并探测从活塞(12)反射的波导波,其特征为,所述缸盖(15)具有圆柱形的空腔(18),以便容纳与活塞(12)连接的圆柱形的终端阻尼元件(19),其中,用于在空腔(18)和终端阻尼元件(19)之间密封的环形密封件(20)布置在空腔(18)的敞开的端区,且在空腔(18)的介电的环绕区域(17)内布置的环形密封件(20)至少部分地配有金属屏蔽件(28)。

2.按权利要求1的测量装置,其特征为,所述缸盖(15)由罐形的金属外区(16)组成,在这个外区中布置空腔(18)的至少一直延伸到耦合探头(24)的介电的环绕区域(17)。

3.按权利要求2的测量装置,其特征为,所述介电的环绕区域(17)具有基本上罐形的形状。

4.按前述权利要求中任一项的测量装置,其特征为,所述耦合探头(24)与圆柱形空腔(18)的底部同心地并相邻地布置在介电的环绕区域(17)中。

5.按前述权利要求中任一项的测量装置,其特征为,分析装置(27)和微波发生器(26)特别是以组合形式(25)布置在缸盖(15)中或上。

6.按前述权利要求中任一项的测量装置,其特征为,阻尼圆盘布置在介电的环绕区域(17)的面向活塞(12)的端面上和/或布置在活塞(12)的对置的端面上。

7.按前述权利要求中任一项的测量装置,其特征为,由环形的屏蔽罩构成的金属屏蔽件(28)具有U形的或半圆形的横截面。

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