[发明专利]制造金属-绝缘体-金属电容器的方法无效
申请号: | 200810127808.0 | 申请日: | 2008-06-25 |
公开(公告)号: | CN101335197A | 公开(公告)日: | 2008-12-31 |
发明(设计)人: | 金柏源 | 申请(专利权)人: | 东部高科股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/768 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 章社杲;李丙林 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制造 金属 绝缘体 电容器 方法 | ||
1.一种制造金属-绝缘体-金属电容器的方法,包括:
在晶片上按顺序形成底电极、绝缘膜和顶电极;
在所述顶电极上形成用于部分蚀刻所述顶电极和绝缘膜的第一图案;
利用形成的第一图案蚀刻所述顶电极和绝缘膜,然后剥掉所述第一图案;
将所述晶片在材料的熔解温度上或者在高于所述熔解温度的温度上进行加热,然后对所述晶片进行淬火,其中,所述材料用于形成所述顶电极或所述底电极;
在剩余的所述顶电极和绝缘膜上形成用于部分蚀刻所述底电极的金属图案;以及
用该形成的金属图案蚀刻所述底电极,然后剥掉该金属图案;
其中,所述晶片的加热温度等于或高于用于形成所述底电极的合金的熔解温度。
2.根据权利要求1所述的方法,进一步包括在剥掉所述第一图案之后淋洗所述晶片的步骤。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述加热和所述淬火进行200秒。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,对所述晶片的加热温度是根据在进行蚀刻和剥离的室中给定的延迟时间来控制。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述底电极由Al制成。
6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述底电极由AlCu制成。
7.根据权利要求1所述的方法,其中,所述顶电极由Ti制成。
8.根据权利要求1所述的方法,其中,所述顶电极由TiN制成。
9.根据权利要求1所述的方法,其中,所述绝缘膜由SiN制成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造