[发明专利]背面照明影像传感器及其制造方法有效
| 申请号: | 200810127697.3 | 申请日: | 2008-07-09 | 
| 公开(公告)号: | CN101409300A | 公开(公告)日: | 2009-04-15 | 
| 发明(设计)人: | 许慈轩;刘汉琦;王俊智 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 | 
| 主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/82 | 
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈 红 | 
| 地址: | 台湾省新竹市新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 背面 照明 影像 传感器 及其 制造 方法 | ||
1.一种背面照明影像传感器,其特征在于,包含:
一基板,具有一正面及一背面;
一传感器,位于该基板的该正面中,该传感器包含至少一光二极管;以及
一空乏区,位于该基板的该背面中,其中该空乏区的一深度小于一基板厚度的20%。
2.根据权利要求1所述的背面照明影像传感器,其特征在于,该基板厚度为1μm至5μm。
3.根据权利要求1所述的背面照明影像传感器,其特征在于,该基板选自由一p-型基板、一n-型基板、一晶膜层、绝缘层上覆硅、硅及上述的组合所组成的一群组。
4.根据权利要求1所述的背面照明影像传感器,其特征在于,该空乏区的该深度小于
5.根据权利要求1所述的背面照明影像传感器,其特征在于,该光二极管为一固定层光二极管或一非固定层光二极管。
6.根据权利要求1所述的背面照明影像传感器,其特征在于,该传感器为一主动像素传感器或一被动像素传感器。
7.根据权利要求1所述的背面照明影像传感器,其特征在于,还包含:
一金属互连层及层间介电质位于该基板的该正面上;
一滤色器位于该基板的该背面上且和该传感器排成一列;以及
一微镜片位于该滤色器上方。
8.一种用以制造一背面照明影像传感器的方法,其特征在于,包含:
(a)提供一基板,其具有一正面、一背面及一第一厚度;
(b)形成多个传感器于该基板的该正面中,其中该多个传感器的每一个包含至少一光二极管;
(c)将该基板厚度由该第一厚度减小至一第二厚度;以及
(d)形成一空乏区于该基板的该背面中,其中该空乏区的一深度小于该第二基板厚度的20%。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,步骤(d)包含:
在距离该基板的该背面一第一深度处植入一第一传导型离子;
在距离该基板的该背面一第二深度处植入一第二传导型离子,其中该第二传导型和该第一传导型不同,且该第二深度小于该第一深度;以及
进行激光退火以活化该第一传导型离子及该第二传导型离子。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,植入该第一传导型离子的该步骤包含利用一p-型掺杂物,一能量为500eV至50KeV,以及一使用剂量为10e3原子/cm2至50e5原子/cm2。
11.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,植入该第二传导型离子的该步骤包含利用一n-型掺杂物,一能量为500eV至40KeV,以及一使用剂量为10e3原子/cm2至50e5原子/cm2。
12.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,执行激光射退火的该步骤包含利用0.5J/cm2至10J/cm2的电流密度。
13.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,该空乏区的该深度小于
14.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,该第二基板厚度为1μm至5μm。
15.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,还包含:
形成一金属互连层及层间介电质于该基板的该正面上;
形成一滤色器于该基板的该背面上且与该传感器排成一列;以及
形成一微镜片于该滤色器上方。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





