[发明专利]一种干涉仪光路系统有效
| 申请号： | 200810123021.7 | 申请日： | 2008-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN101324521A | 公开（公告）日： | 2008-12-17 |
| 发明（设计）人： | 魏秀丽;陆亦怀;高闽光;陈军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45;G02B17/06 |
| 代理公司： | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230031安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 干涉仪 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种干涉仪光路系统，包括有光源、分束片、抛物镜、平面镜、探测器，其特征在于光源位于第一抛物镜(1)的焦平面中心，光源发出的光通过第一抛物镜(1)变为平行光射到干涉仪的分束片(2)上，干涉仪出射的平行光经过平面镜(3)反射到第二抛物镜(4)，然后再经过第三抛物镜(5)和第四抛物镜(6)的反射到达探测器上；第一、第二、第三、第四抛物镜的抛物线方程是相同的，即有相同的焦点，第二抛物镜(4)与第三抛物镜(5)对称设置，它们间的距离正好是2倍的焦距，经过第二抛物镜(4)的光束会聚在第二抛物镜(4)和第三抛物镜(5)中间的位置，即位于第二抛物镜(4)、第三抛物镜(5)焦平面的中心，此中心就是测量样品放置位置，探测器(7)放在第四抛物镜(6)的焦平面上，第四抛物镜(6)接收到的平行光正好会聚到探测器(7)上。
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