[发明专利]一种InP-InAsP纳米线LED及其制备方法有效

专利信息
申请号: 200810122000.3 申请日: 2008-11-06
公开(公告)号: CN101399306A 公开(公告)日: 2009-04-01
发明(设计)人: 沈常宇;金尚忠;彭德光;林科;周盛华;古元华 申请(专利权)人: 中国计量学院
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 杭州浙科专利事务所 代理人: 吴秉中
地址: 310018浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 inp inasp 纳米 led 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于发光二极管的技术领域,尤其是纳米线发光二极管的技术领域,具体涉及一种InP-InAsP纳米线LED及其制备方法。

背景技术

随着材料技术的发展,直接在各种基质,如:硅、氮化镓上生长直接带隙纳米线成为可能。在固体发光照明应用和量子光学领域,由于具有较高的发光效率,纳米线阵列被认为是一种理想的发光材料,另外,由于量子局限效应,纳米线具有比体材料更好的发光性能。因此,以纳米线作为发光二极管的有源层,可以大大提高发光效率,并且根据量子约束效应,通过对纳米线的宽度等进行调节,可以得到不同波段的发射光。且目前传统使用的红光、红外LED的发光效率都较低。

发明内容

针对现有技术中存在的问题,本发明的目的在于提供一种InP-InAsP纳米线LED及其制备方法的技术方案,采用纳米线作为有源层,使LED的发光效率大大提高。

所述的一种InP-InAsP纳米线LED及其制备方法,其特征在于包括衬底,衬底的一面自下而上依次沉积设置p-InP纳米线层、InAsxP1-x纳米线阵列和n-InP纳米线层,衬底的另一面沉积设置第一电极,n-InP纳米线层上沉积设置第二电极,InAsxP1-x纳米线阵列为LED的有源层,其中x值的范围为0~0.6。

所述的一种InP-InAsP纳米线LED及其制备方法,其特征在于衬底为硅、氮化镓、氧化锌或蓝宝石。

所述的一种InP-InAsP纳米线LED及其制备方法,其特征在于所述的p-InP纳米线层和n-InP纳米线层的纳米线直径为50~200nm,InAsxP1-x纳米线阵列的纳米线直径为20~50nm。

所述的一种InP-InAsP纳米线LED及其制备方法,其特征在于制备InP-InAsP纳米线LED的方法包括如下工艺步骤:

1)采用金属有机气相外延法在衬底的一面自下而上依次沉积p-InP纳米线层、InAsxP1-x纳米线阵列和n-InP纳米线层;

2)调节生长温度到420~450℃,使用氢气作为载气,以PH3气体作为InP的受主P掺杂源;

3)温度稳定后,在反应釜中加入摩尔分数为2.0×10-5~2.5×10-5的三甲基铟,并同时使用摩尔分数为1.7×10-6的H2S气体实现n型掺杂,当n-InP纳米线层的纳米线直径达到50~200nm后,加入摩尔分数为3.2×10-4~3.7×10-4的二乙基锌进行p型掺杂,直至p-InP纳米线层的纳米线直径达到50~200nm;

4)在InP的p-n结初步形成时,停止氢气和H2S的供气,同时开始输入气体AsH3进行InAsxP1-x纳米线的生长,生长垂直于衬底并且彼此具有间隙的InP和InAsxP1-x纳米线,生长结束后继续在PH3的环境中冷却至室温;

5)生长完毕后,采用旋涂工艺将有机光刻胶填充于纳米线之间的间隙中,采用刻蚀法去除纳米线表面的氧化层;

6)采用溅射法在n-InP纳米线层上表面沉积第二电极,在衬底的另一面沉积第一电极;

7)最后曝光清洗掉光刻胶。

所述的一种InP-InAsP纳米线LED及其制备方法,其特征在于生产方法步骤2)中所述的使用氢气作为载气,氢气的流量为6升/分钟,气压为50mbar,PH3气体的摩尔分数为8×10-3~8.5×10-3

所述的一种InP-InAsP纳米线LED及其制备方法,其特征在于生产方法步骤4)中所述的输入气体AsH3进行InAsxP1-x纳米线的生长,其中InAsxP1-x纳米线中As的含量通过调节AsH3与PH3的比例进行控制。

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