[发明专利]一种闪烁晶体阵列探测装置无效
| 申请号: | 200810117804.4 | 申请日: | 2008-08-04 |
| 公开(公告)号: | CN101644780A | 公开(公告)日: | 2010-02-10 |
| 发明(设计)人: | 曹文田;凌松云 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
| 主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202 |
| 代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人: | 张国良 |
| 地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 闪烁 晶体 阵列 探测 装置 | ||
1、一种闪烁晶体阵列探测装置,其特征在于,该装置包括:
晶体阵列,包括M×N个晶体,所述晶体用于产生荧光光子,其中M为行数、N为列数;
M×N根光导,每根光导与一个晶体的表面连接,用于收集该晶体产生的荧光光子并进行传输;
光纤分光单元,用于将每根光导传输的荧光光子均分到两路光纤进行传输,分别为行传输光纤和列传输光纤;
光纤合并单元,用于将同一行晶体所接光导对应的行传输光纤熔接成一根行光纤,将同一列晶体所接光导对应的列传输光纤熔接成一根列光纤;
光纤信号读出单元,与所述行光纤和列光纤连接,用于识别传输荧光光子的行光纤所处行数、列光纤所处列数,进而确定产生荧光光子的晶体位置,并探测所接收的荧光光子的总数和能量。
2、如权利要求1所述的闪烁晶体阵列探测装置,其特征在于,所述晶体阵列中每个晶体除与光导连接的表面外,其余表面均被反射层包裹,在接收γ光子后产生荧光光子。
3、如权利要求1或2所述的闪烁晶体阵列探测装置,其特征在于,所述光纤信号读出单元为位置灵敏光电转换器件或可见光光子计数器。
4、如权利要求1所述的闪烁晶体阵列探测装置,其特征在于,所述光纤信号读出单元包括两个位置灵敏光电倍增管,其中一个连接所有行光纤,用于探测每根行光纤传输的荧光光子,另一个连接所有列光纤,用于探测每根列光纤传输的荧光光子。
5、如权利要求4所述的闪烁晶体阵列探测装置,其特征在于,所述行光纤和列光纤中的每一根通过长光纤接入所述位置灵敏光电倍增管,所述长光纤为将行光纤、列光纤连接到位置灵敏光电倍增管接口进行过渡的光纤。
6、如权利要求5所述的闪烁晶体阵列探测装置,其特征在于,所述光导、光纤分光单元、光纤合并单元、行光纤、列光纤、长光纤均为阶跃型光纤或渐变型光纤。
7、如权利要求5所述的闪烁晶体阵列探测装置,其特征在于,所述长光纤为波移光纤。
8、如权利要求1所述的闪烁晶体阵列探测装置,其特征在于,所述晶体为立方体晶体,所述光导连接晶体的一端为与晶体表面外形吻合的方形,所述光导的另一端为圆形或方形。
9、如权利要求2所述的闪烁晶体阵列探测装置,其特征在于,所述晶体为NaI(T1)、CsI(T1)、CsI(Na)。
10、如权利要求2所述的闪烁晶体阵列探测装置,其特征在于,所述反射层为全反射材料或漫反射材料。
11、如权利要求10所述的闪烁晶体阵列探测装置,其特征在于,所述反射层为铝箔或氧化钛。
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