[发明专利]一种用于痕量检测仪器的样品解析器无效
| 申请号： | 200810117699.4 | 申请日： | 2008-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN101644645A | 公开（公告）日： | 2010-02-10 |
| 发明（设计）人： | 贺文;张阳天;彭华 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/44 | 分类号： | G01N1/44 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 王新华 |
| 地址： | 100084北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 痕量 检测 仪器 样品 解析 | ||
【权利要求书】：
1.一种样品解析器，包括加热器和进样载体，其特征在于，所述加热器和进样载体制成一体，从而使得进样载体和加热器之间的位置关系固定不变。
2.根据权利要求1所述的样品解析器，其中所述进样载体为网膜。
3.根据权利要求2所述的样品解析器，其中所述加热器包括加热元件，所述加热元件分布于所述网膜的下方，并且所述加热元件和所述网膜之间的位置关系固定不变。
4.根据权利要求3所述的样品解析器，其中所述加热元件和所述网膜由低热容材料制成。
5.根据权利要求4所述的样品解析器，还包括冷却风扇，所述冷却风扇设置在所述加热元件的下方，用于在需要时对样品解析器进行冷却。
6.根据权利要求1所述的样品解析器，其中所述进样载体为平板或褶皱物。
7.根据权利要求5所述的样品解析器，还包括挡板，所述挡板设置在样品解析器的外端。
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