[发明专利]利用光辅助氧化湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的方法无效

专利信息
申请号: 200810116414.5 申请日: 2008-07-09
公开(公告)号: CN101625971A 公开(公告)日: 2010-01-13
发明(设计)人: 刘文宝;孙苋;赵德刚;刘宗顺;张书明;朱建军;杨辉 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L21/302 分类号: H01L21/302
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 100083北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 利用 辅助 氧化 湿法 刻蚀 氮化物 方法
【权利要求书】:

1.一种利用光辅助氧化湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1:利用标准的光刻工艺在Ⅲ族氮化物表面制作有图案的紫外光掩蔽层;

步骤2:将表面上制作有图案的紫外光掩蔽层的Ⅲ族氮化物置于高能紫外光下曝光,使具有图案的暴露的Ⅲ族氮化物在紫外光辅助下发生氧化,生成金属氧化物;

步骤3:去除掩蔽层;

步骤4:将曝光后的Ⅲ族氮化物的样品放在酸或碱性溶液中,将生成的金属氧化物完全腐蚀掉,形成带有图案的刻蚀台阶,完成湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的工艺。

2.根据权利要求1所述的利用光辅助氧化湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的方法,其特征在于,其中所述的Ⅲ族氮化物的材料为:GaN、AlN或InN或由它们组成的三元或者其他多元化合物。

3.根据权利要求1所述的利用光辅助氧化湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的方法,其特征在于,其中所述的紫外光曝光,是通过曝光时间和紫外光强度来控制生成金属氧化物的厚度,从而控制刻蚀的深度。

4.一种利用光辅助氧化湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1:将Ⅲ族氮化物置于聚焦的紫外激光器下曝光,通过计算机控制步进马达来移动样品或者激光器,使被曝光的区域在紫外激光辅助下发生氧化,生成金属氧化物;

步骤2:将曝光后的Ⅲ族氮化物置于酸或碱性腐蚀液中,将生成金属氧化物完全腐蚀掉,形成带有图案的刻蚀台阶,完成湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的工艺。

5.根据权利要求4所述的利用光辅助氧化湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的方法,其特征在于,其中所述的Ⅲ族氮化物的材料为:GaN、AlN或InN或由它们组成的三元或者其他多元化合物。

6.根据权利要求4所述的利用光辅助氧化湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的方法,其特征在于,其中所述的聚焦的紫外激光曝光,是通过曝光时间和激光强度来控制生成金属氧化物的厚度,从而控制刻蚀的深度。

7.一种利用光辅助氧化湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1:利用分光镜将紫外激光器发出的紫外激光束分成两束相干的紫外光,调整光路使两束相干紫外光束发生干涉形成明暗相间的干涉条纹;

步骤2:将Ⅲ族氮化物置于相干激光束下曝光,被曝光的区域在紫外激光辅助下发生氧化,生成金属氧化物;

步骤3:将曝光后的Ⅲ族氮化物的样品置于酸或碱性腐蚀液中,将生成金属氧化物完全腐蚀掉,形成带有条纹状刻蚀台阶,完成湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的工艺。

8.根据权利要求7所述的利用光辅助氧化湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的方法,其特征在于,其中所述的Ⅲ族氮化物的材料为:GaN、AlN或InN或由它们组成的三元或者其他多元化合物。

9.根据权利要求7所述的利用光辅助氧化湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的方法,其特征在于,其中所述的相干激光束曝光,是通过曝光时间和激光强度来控制生成金属氧化物的厚度,从而控制刻蚀的深度。

10.根据权利要求7所述的利用光辅助氧化湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的方法,其特征在于,其中所述的相干激光束曝光,是通过调整激光波长来控制曝光区域的宽度和间隔,从而控制刻蚀的条纹状刻蚀台阶的宽度和间隔。

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