[发明专利]一种快速检测试条电极的制备方法无效
申请号: | 200810116097.7 | 申请日: | 2008-07-03 |
公开(公告)号: | CN101303324A | 公开(公告)日: | 2008-11-12 |
发明(设计)人: | 宗小林;胡美函 | 申请(专利权)人: | 宗小林 |
主分类号: | G01N27/30 | 分类号: | G01N27/30 |
代理公司: | 北京宇生知识产权代理事务所 | 代理人: | 倪骏 |
地址: | 100024北京市朝阳*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 快速 检测 电极 制备 方法 | ||
1、一种快速检测试条电极的制备方法,其特征在于采用表面平整、特性均一的玻璃、金属或塑料平板作基材1,将金属薄膜沉积在基材1上,再通过另一基材2上的胶粘剂将金属薄膜从基材1上转印下来,使金属薄膜转印到基材2的表面上形成电极,所述胶粘剂是先将胶粘剂涂覆或印刷在离型化处理的基材3的表面上,再转印到基材2的表面上。
2、如权利要求1所述的方法,所述胶粘剂是热敏胶或压敏胶,所述基材3是表面平整、特性均一的玻璃、金属或塑料平板,所述基材2是塑料材料。
3、如权利要求2所述的方法,所述玻璃是平板玻璃,所述金属平板通过打磨及电抛光工艺进行表面处理。
4、如权利要求3所述的方法,对所述基材1和基材3进行硅烷化或聚四氟乙烯化离型化处理。
5、如权利要求4所述的方法,所述金属薄膜是单独的贵金属薄膜或者复合金属薄膜。
6、如权利要求5所述的方法,所述单独的贵金属薄膜是金、铂或钯。
7、如权利要求5所述的方法,所述复合金属薄膜是先在基材1的表面沉积比较薄的单独的贵金属薄膜,再在单独的贵金属薄膜上沉积其他金属材料。
8、如权利要求7所述的方法,所述其他金属材料是铝或铜。
9、如权利要求7所述的方法,所述金属薄膜在转印前通过机械方式或激光切割方式,按拟转印的图形将金属薄膜的表面划出印迹,由所述金属薄膜形成的电极的宽度及相互间的距离可以根据实际需要进行设计。
10、如权利要求9所述的方法,所述基材2上的胶粘剂形成为各种形状,其形状和大小按照电极未来应用时对于反应区的要求而确定。
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