[发明专利]用于痕量探测仪的样品处理系统及方法

权利要求书

1.一种样品处理系统，包括：

采样载体，用于通过擦拭待检物体表面而将其表面附着的物质采集 到采样载体的表面上，其中所述采样载体是片状件，并由的确良、高密 度聚乙烯纤维、涤纶或尼龙制成；以及

痕量探测仪，所述痕量探测仪具有进样装置，该进样装置中设有进 样件；以及对进样件进行加热的加热器，其中所述进样件为由金属膜或 金属网制成的片状件；

通过使采样载体与进样件的表面接触将采样载体的表面所采集的物 质转移到该进样件的表面上，并且由所述加热器加热该进样件以将转移 到该进样件的表面上的物质气化并释放到痕量探测仪中，再对该物质进 行检测，

所述进样装置设置为开合式的或抽拉式的，打开或抽出所述进样装 置的可开合或可抽出的部件时露出所述进样件。

2.按照权利要求1所述的样品处理系统，其中所述金属为不锈钢。

3.按照权利要求1所述的样品处理系统，其中所述金属为镍、铬、 铂中的一种或由镍、铬、铂中的至少一种形成的合金中的一种。

4.按照权利要求1所述的样品处理系统，所述金属膜的厚度为 0.01-0.10mm。

5.按照权利要求1所述的样品处理系统，所述金属网的金属丝的直 径为0.01-0.10mm，所述金属网的目数为300-800目。

6.一种用于痕量探测仪的样品处理方法，所述痕量探测仪具有进 样装置，该进样装置中设有进样件；以及对进样件进行加热的加热器， 其中所述进样件为由金属膜或金属网制成的片状件，所述方法包括如下 步骤：提供采样载体，利用采样载体擦拭待检物体表面而将待检物体表 面附着的物质采集到采样载体的表面上，其中所述采样载体是片状件， 并由的确良、高密度聚乙烯纤维、涤纶或尼龙制成；以及

通过使采样载体与进样件的表面接触将采样载体表面上所采集的物 质转移到该进样件的表面上，并且通过所述加热器加热该进样件以将转 移到该进样件的表面上的物质气化并释放到痕量探测仪中，再对该物质 进行检测，

所述进样装置设置为开合式的或抽拉式的，打开或抽出所述进样装 置的可开合或可抽出的部件时露出所述进样件。

7.按照权利要求6所述的样品处理方法，其中所述金属为不锈钢。

8.按照权利要求6所述的样品处理方法，其中所述金属为镍、铬、 铂中的一种或由镍、铬、铂中的至少一种形成的合金中的一种。

9.按照权利要求6所述的样品处理方法，所述金属膜的厚度为 0.01-0.10mm。

10.按照权利要求6所述的样品处理方法，所述金属网的金属丝的 直径为0.01-0.10mm，所述金属网的目数为300-800目。