[发明专利]用于测量涡轮中叶片变形的方法和系统有效

专利信息
申请号: 200810110052.9 申请日: 2008-05-29
公开(公告)号: CN101315270A 公开(公告)日: 2008-12-03
发明(设计)人: S·霍伊特;E·格布哈德特;E·鲍克奈特;S·德拉佩尔;J·格兰特 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01B7/16 分类号: G01B7/16;G01B15/06
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 曾祥夌;刘华联
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 涡轮 叶片 变形 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种用于确定涡轮中的叶片的轴向变形的方法,所述方法包 括如下步骤:

利用设置在叶片的级的周缘周围的一个或多个接近度传感器进 行从涡轮壳体上的固定位置到所述叶片的距离的初始测量,所述固定 位置为如下位置的其中一个:所述叶片的级的轴向位置的上游、所述 叶片的级的所述轴向位置的下游、以及所述叶片的级的所述轴向位置 的上游和下游两者;

在所述初始测量之后,利用所述一个或多个接近度传感器进行所 述距离的第二测量;以及

通过将所述初始测量与所述第二测量进行比较做出所述叶片的 轴向变形的判定。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述初始测量和所 述第二测量各指示从所述叶片的侧面到所述一个或多个接近度传感 器的距离。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于在所述涡轮运行的 同时进行所述初始测量和所述第二测量。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述方法还包括如 下步骤:

测量所述叶片的径向温度分布;和

从所述径向温度分布确定所述轴向变形均匀或集中的程度。

5.一种用于确定涡轮中的叶片的轴向变形的系统,所述系统包 括:

围绕着叶片的级的周缘而设置在固定位置处的一个或多个接近 度传感器,所述固定位置为如下位置的其中一个:所述叶片的级的轴 向位置的上游、所述叶片的级的所述轴向位置的下游、以及所述叶片 的级的所述轴向位置的上游和下游两者;和

接收来自所述接近度传感器的测量数据的控制系统;

其中所述控制系统配置成通过将由所述一个或多个接近度传感 器进行的所述叶片的初始测量与所述第二测量进行比较而确定所述 叶片的轴向变形。

6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于所述初始测量和所 述第二测量各指示从所述叶片的一侧到所述一个或多个接近度传感 器的距离。

7.根据权利要求5所述的系统,其特征在于在所述涡轮运行的 同时进行所述初始测量和所述第二测量。

8.根据权利要求5所述的系统,其特征在于所述系统还包括红 外线高温计;

其中所述红外线高温计测量所述叶片的径向温度分布,并为所述 控制系统提供径向温度分布数据;

其中所述控制系统从所述径向温度分布数据确定所述轴向变形 均匀或集中的程度。

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