[发明专利]光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法

权利要求书

1.一种在光学记录介质上记录数据的方法，所述方法包括：

检测光学记录介质上的连续缺陷块；

产生包括至少一个连续缺陷列表条目的缺陷列表，所述连续缺陷列表条 目包括分别与连续缺陷块中第一缺陷块和最后缺陷块相应的开始条目和结束 条目，

其中，所述开始条目包括表示连续缺陷块中的第一缺陷块的状态信息、 第一缺陷块的位置信息和用于替换第一缺陷块的替换块的位置信息；所述结 束条目包括表示连续缺陷块中的最后缺陷块的状态信息、最后缺陷块的位置 信息和用于替换最后缺陷块的替换块的位置信息，其中，所述状态信息包括 表示缺陷块是否是连续缺陷块的连续缺陷信息，

其中，所述缺陷列表还包括关于连续缺陷列表条目的数量的信息。

2.一种从光学记录介质再现数据的方法，所述方法包括：

从光学记录介质中再现包括至少一个连续缺陷列表条目的缺陷列表，所 述连续缺陷列表条目包括分别与连续缺陷块中的第一缺陷块和最后缺陷块相 应的开始条目和结束条目，

其中，所述开始条目包括表示连续缺陷块中的第一缺陷块的状态信息、 第一缺陷块的位置信息和用于替换第一缺陷块的替换块的位置信息；所述结 束条目包括表示连续缺陷块中的最后缺陷块的状态信息、最后缺陷块的位置 信息和用于替换最后缺陷块的替换块的位置信息，其中，所述状态信息包括 表示缺陷块是否是连续缺陷块的连续缺陷信息，

其中，所述缺陷列表还包括关于连续缺陷列表条目的数量的信息。