[发明专利]检样处理系统有效
申请号: | 200810107829.6 | 申请日: | 2008-05-14 |
公开(公告)号: | CN101308070A | 公开(公告)日: | 2008-11-19 |
发明(设计)人: | 鬼泽邦昭;小张浩一;大泉纯一;大庭茂实;阿部哲昭 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N1/42 | 分类号: | G01N1/42;G01N1/28;B01L9/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 许静 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 系统 | ||
1.一种检样处理系统,其具有:检样处理装置;向该检样处理装置传送 检样的传送装置;和在该传送装置上连接的、使检样临时等待的等待装置,其 特征在于,
在所述等待装置内具有使检样等待的缓冲器部、使检样等待的低温保持 部以及仅冷却所述低温保持部的冷却装置。
2.根据权利要求1所述的检样处理系统,其特征在于,
从所述传送装置一侧按照所述缓冲器部、所述低温保持部的顺序设置所 述等待装置中的所述缓冲器部和所述低温保持部。
3.根据权利要求1所述的检样处理系统,其特征在于,
所述等待装置内还具有向所述传送装置、所述缓冲器部以及所述低温保 持部传送检样的传送部。
4.根据权利要求1所述的检样处理系统,其特征在于,
所述检样被载放在可载放一个以上的检样的检样架上,
在所述等待装置内具有可对所述传送装置、所述缓冲器部内的以及所述 低温保持部内的所述检样架进行存储或取出的移置机构部。
5.根据权利要求1所述的检样处理系统,其特征在于,
所述低温保持部内具有收纳低温保持用检样的低温保持空间以及使空气 循环的对流空间。
6.根据权利要求5所述的检样处理系统,其特征在于,
所述低温保持部内具有使所述低温保持空间和所述对流空间之间通气的 通气孔或金属丝网。
7.一种检样处理系统,其具有:检样处理装置;向该检样处理装置传送 检样或试样的传送装置;和在该传送装置上连接的、使检样或试样临时等待的 等待装置,其特征在于,
在所述等待装置内具有使所述检样中的一般用检样等待的缓冲器部、使 所述检样中的需要低温保持的低温保持用检样或试样等待的低温保持部以及 冷却所述低温保持部的冷却装置。
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