[发明专利]实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法有效
| 申请号: | 200810102206.X | 申请日: | 2008-03-19 |
| 公开(公告)号: | CN101540296A | 公开(公告)日: | 2009-09-23 |
| 发明(设计)人: | 黎明;张海英;徐静波;付晓君 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号: | H01L21/822 | 分类号: | H01L21/822 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 周国城 |
| 地址: | 100029*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 实现 微波 开关 及其 逻辑 控制电路 单片 集成 制作方法 | ||
1.一种实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法,其特征在于,该方法包括:
对GaAs基应变高电子迁移率晶体管外延片进行预处理;
对源漏进行光刻,蒸发Ti/Pt/Au形成欧姆接触,实现源漏的制备;
腐蚀InGaAs帽层,形成增强型栅极,实现栅极的制备;
采用PECVD生长一层SiN介质,溅射NiCr合金制作电阻;
刻孔,蒸发一次布线金属,采用PECVD生长一层SiN介质,然后在SF6气体氛围下进行等离子光刻进行二次刻孔,并光刻布线,蒸发第二次布线金属Ti/Au;
常规金属剥离形成金属图形。
2.根据权利要求1所述的实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法,其特征在于,所述对GaAs基应变高电子迁移率晶体管外延片进行预处理具体包括:
对GaAs基应变高电子迁移率晶体管外延片进行腐蚀隔离,然后先用丙酮冲洗,再用乙醇清洗,最后用去离子水冲洗6遍,放入120℃的烘箱中烘烤10分钟,并在130℃走程序,然后在外延片上以3000转/分的速度涂敷991原胶,涂敷时间为1分钟,涂敷厚度为1.5μm,然后在95℃的热板上烘烤90秒,并采用正胶显影液显影60秒,然后用去离子水冲洗,并吹干,然后打底胶并在O2气体氛围下进行等离子光刻,O2气体流量为60sccm,等离子光刻的功率为20W,时间为120秒,然后在体积比HCL∶H2O=1∶10的腐蚀液中漂10秒,以去除表面氧化层,测台阶高度,再采用腐蚀液H3PO4∶H2O2∶H2O=3∶1∶50进行腐蚀,腐蚀时间40秒,监测电流及岛高,然后将腐蚀液清洗干净,并采用丙酮去胶,再清洗吹干。
3.根据权利要求1所述的实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法,其特征在于,所述对源漏进行光刻,蒸发Ti/Pt/Au形成欧姆接触,实现源漏的制备包括:
在外延片上涂敷原胶AZ5214,转速为3500转/分,涂敷时间1分钟,涂敷原胶的厚度为1.6μm,然后在95℃的热板上烘烤90秒,并将源漏版采用小机器曝光20秒,并采用AZ5214显影液显60秒,然后用去离子水冲洗,打底胶30秒,并在腐蚀液H3PO4∶H2O=1∶15中漂洗20秒以去除氧化层,最后再采用丙酮剥离多余的源漏金属。
4.根据权利要求1所述的实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法,其特征在于,所述腐蚀InGaAs帽层,形成增强型栅极,实现栅极的制备包括:
在外延片上涂敷胶AZ5206,转速为3000转/分,涂敷时间1分,涂敷胶的厚度为1.4μm,然后在95℃的热板上烘烤90秒,并将栅金属版采用大机器曝光2.1秒,挖栅槽,采用腐蚀液柠檬酸∶双氧水=1∶1腐蚀InGaAs帽层,形成增强耗尽型栅极,然后蒸发栅金属Ti/Pt/Au,并采用丙酮剥离多余的栅金属,其中,Ti的厚度为Pt的厚度为Au的厚度为
5.根据权利要求1所述的实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法,其特征在于,所述采用PECVD生长一层SiN介质的步骤中SiN介质的厚度为2000埃。
6.根据权利要求1所述的实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法,其特征在于,所述溅射NiCr合金制作电阻的步骤包括:
在外延片上涂敷AZ5214胶,转速为4000转/分,涂敷时间60秒,涂敷胶的厚度为1.5μm,然后在95℃的热板上烘烤90秒,然后对外延片进行光刻、反转和泛曝光,并采用SP-3型磁控溅射机在外延片上溅射厚度为的NiCr合金。
7.根据权利要求1所述的实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法,其特征在于,所述刻孔,蒸发一次布线金属,采用PECVD生长一层SiN介质,然后在SF6气体氛围下进行等离子光刻进行二次刻孔,并光刻布线,蒸发第二次布线金属Ti/Au的步骤包括:
在O2氛围下进行等离子光刻RIE,流量60sccm,功率20W;
光刻布线,蒸发第一次布线金属Ti/Au,并剥离;
采用PECVD生长厚度为3000埃的SiN介质,然后在SF6气体氛围下进行等离子光刻进行二次刻孔,流量30sccm,功率30W;
光刻布线,蒸发第二次布线金属Ti/Au,其中Ti的厚度为1000埃,Au的厚度为10000埃。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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