[发明专利]实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法有效

专利信息
申请号: 200810102206.X 申请日: 2008-03-19
公开(公告)号: CN101540296A 公开(公告)日: 2009-09-23
发明(设计)人: 黎明;张海英;徐静波;付晓君 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L21/822 分类号: H01L21/822
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 100029*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 实现 微波 开关 及其 逻辑 控制电路 单片 集成 制作方法
【权利要求书】:

1.一种实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法,其特征在于,该方法包括:

对GaAs基应变高电子迁移率晶体管外延片进行预处理;

对源漏进行光刻,蒸发Ti/Pt/Au形成欧姆接触,实现源漏的制备;

腐蚀InGaAs帽层,形成增强型栅极,实现栅极的制备;

采用PECVD生长一层SiN介质,溅射NiCr合金制作电阻;

刻孔,蒸发一次布线金属,采用PECVD生长一层SiN介质,然后在SF6气体氛围下进行等离子光刻进行二次刻孔,并光刻布线,蒸发第二次布线金属Ti/Au;

常规金属剥离形成金属图形。

2.根据权利要求1所述的实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法,其特征在于,所述对GaAs基应变高电子迁移率晶体管外延片进行预处理具体包括:

对GaAs基应变高电子迁移率晶体管外延片进行腐蚀隔离,然后先用丙酮冲洗,再用乙醇清洗,最后用去离子水冲洗6遍,放入120℃的烘箱中烘烤10分钟,并在130℃走程序,然后在外延片上以3000转/分的速度涂敷991原胶,涂敷时间为1分钟,涂敷厚度为1.5μm,然后在95℃的热板上烘烤90秒,并采用正胶显影液显影60秒,然后用去离子水冲洗,并吹干,然后打底胶并在O2气体氛围下进行等离子光刻,O2气体流量为60sccm,等离子光刻的功率为20W,时间为120秒,然后在体积比HCL∶H2O=1∶10的腐蚀液中漂10秒,以去除表面氧化层,测台阶高度,再采用腐蚀液H3PO4∶H2O2∶H2O=3∶1∶50进行腐蚀,腐蚀时间40秒,监测电流及岛高,然后将腐蚀液清洗干净,并采用丙酮去胶,再清洗吹干。

3.根据权利要求1所述的实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法,其特征在于,所述对源漏进行光刻,蒸发Ti/Pt/Au形成欧姆接触,实现源漏的制备包括:

在外延片上涂敷原胶AZ5214,转速为3500转/分,涂敷时间1分钟,涂敷原胶的厚度为1.6μm,然后在95℃的热板上烘烤90秒,并将源漏版采用小机器曝光20秒,并采用AZ5214显影液显60秒,然后用去离子水冲洗,打底胶30秒,并在腐蚀液H3PO4∶H2O=1∶15中漂洗20秒以去除氧化层,最后再采用丙酮剥离多余的源漏金属。

4.根据权利要求1所述的实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法,其特征在于,所述腐蚀InGaAs帽层,形成增强型栅极,实现栅极的制备包括:

在外延片上涂敷胶AZ5206,转速为3000转/分,涂敷时间1分,涂敷胶的厚度为1.4μm,然后在95℃的热板上烘烤90秒,并将栅金属版采用大机器曝光2.1秒,挖栅槽,采用腐蚀液柠檬酸∶双氧水=1∶1腐蚀InGaAs帽层,形成增强耗尽型栅极,然后蒸发栅金属Ti/Pt/Au,并采用丙酮剥离多余的栅金属,其中,Ti的厚度为Pt的厚度为Au的厚度为

5.根据权利要求1所述的实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法,其特征在于,所述采用PECVD生长一层SiN介质的步骤中SiN介质的厚度为2000埃。

6.根据权利要求1所述的实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法,其特征在于,所述溅射NiCr合金制作电阻的步骤包括:

在外延片上涂敷AZ5214胶,转速为4000转/分,涂敷时间60秒,涂敷胶的厚度为1.5μm,然后在95℃的热板上烘烤90秒,然后对外延片进行光刻、反转和泛曝光,并采用SP-3型磁控溅射机在外延片上溅射厚度为的NiCr合金。

7.根据权利要求1所述的实现微波开关及其逻辑控制电路单片集成的制作方法,其特征在于,所述刻孔,蒸发一次布线金属,采用PECVD生长一层SiN介质,然后在SF6气体氛围下进行等离子光刻进行二次刻孔,并光刻布线,蒸发第二次布线金属Ti/Au的步骤包括:

在O2氛围下进行等离子光刻RIE,流量60sccm,功率20W;

光刻布线,蒸发第一次布线金属Ti/Au,并剥离;

采用PECVD生长厚度为3000埃的SiN介质,然后在SF6气体氛围下进行等离子光刻进行二次刻孔,流量30sccm,功率30W;

光刻布线,蒸发第二次布线金属Ti/Au,其中Ti的厚度为1000埃,Au的厚度为10000埃。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810102206.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top