[发明专利]一种图像检测方法与装置无效

专利信息
申请号: 200810100928.1 申请日: 2008-02-26
公开(公告)号: CN101242542A 公开(公告)日: 2008-08-13
发明(设计)人: 沈操 申请(专利权)人: 北京中星微电子有限公司
主分类号: H04N9/04 分类号: H04N9/04;H04N17/00
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 代理人: 黄志华
地址: 100083北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 图像 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1、一种图像检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

采集多幅待检测原始图像,将所述多幅待检测原始图像叠加;

将叠加图像进行划分,划分为多个小图像块,从所述多个小图像块中选取至少一个满足条件的小图像块作为基准区域;

根据所述基准区域进行图像检测。

2、如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将叠加图像进行划分的步骤前还包括以下步骤:

对叠加图像进行一致性补偿。

3、如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对叠加图像进行一致性补偿,包括:

补偿叠加图像透镜成像不均一性参数和校正图像传感器对R、G、B光谱响应不一致的参数。

4、如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据基准区域进行图像检测,包括:

求所述基准区域的灰度值的平均值,将补偿后图像的每个像素点的灰度值和所述平均值的差值与差值阈值进行比较,检测像素点。

5、如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述将补偿后图像的每个像素点的灰度值和所述平均值的差值与差值阈值进行比较,检测像素点,包括:

当补偿后图像的像素点的灰度值与所述平均值的差值的绝对值小于设定的差值阈值时,判定此像素点为正常点;

当补偿后图像的像素点的灰度值与所述平均值的差值的绝对值大于设定的差值阈值时,判定此像素点为坏点。

6、如权利要求1所述的方法,其特征在于,从所述多个小图像块中选取至少一个满足条件的小图像块作为基准区域,包括:

计算所述多个小图像块的灰度值的平均值和灰度值的方差,将所述灰度值的方差和设定的方差阈值进行比较,确定满足条件的小图像块,将所述小图像块作为基准区域。

7、如权利要求6所述的方法,其特征在于,将所述灰度值的方差和设定的方差阈值进行比较,确定满足条件的小图像块,包括:

当小图像块的灰度值的方差小于设定的方差阈值时,将所述小图像块作为基准区域。

8、如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待检测原始图像包括:贝尔Bayer原始图像。

9、如权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述多幅待检测原始图像进行叠加,包括:

将多幅待检测原始图像对应像素点的灰度值相加,求此相加值的平均值,将此平均值作为对应像素点的灰度值,得到叠加图像。

10、一种图像检测装置,其特征在于,该装置包括:

采集叠加模块,用于采集多幅待检测原始图像,并将所述多幅待检测原始图像进行叠加;

划分模块,用于将所述叠加图像进行划分,划分为多个小图像块;

选取模块,用于从所述划分的多个小图像块中选取至少一个满足条件的小图像块作为基准区域;

检测模块,用于根据所述基准区域进行图像检测。

11、如权利要求10所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:

补偿模块,用于对所述叠加图像进行一致性补偿。

12、如权利要求11所述的装置,其特征在于,所述补偿模块包括:

第一补偿单元,用于补偿图像透镜成像不均一性参数;

第二补偿单元,用于校正图像传感器对对R、G、B光谱响应不一致的参数。

13、如权利要求10所述的装置,其特征在于,所述检测模块包括:

计算模块,用于计算所述基准区域的灰度值的平均值;

比较模块,用于将所述补偿后图像的每个像素点的灰度值和所述平均值的差值与差值阈值进行比较,检测像素点。

14、如权利要求13所述的装置,其特征在于,所述比较模块包括:

计算单元,用于计算所述基准区域的灰度值的平均值,和所述补偿后的图像的每个像素点的灰度值的差值;

比较单元,用于比较所述差值的绝对值和设定的差值阈值;

检测单元,用于根据所述比较单元比较的结果检测像素点。

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