[发明专利]垂直磁记录介质及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200810098710.7 申请日: 2008-05-30
公开(公告)号: CN101388222A 公开(公告)日: 2009-03-18
发明(设计)人: 孔硕贤;朴相奂;李厚山;李宅东;吴薰翔 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B5/66 分类号: G11B5/66;G11B5/667;G11B5/673;G11B5/64
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 张 波
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 垂直 记录 介质 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种垂直磁记录介质,包括:

衬底;

形成于所述衬底上的软磁层;

在所述软磁层上由Ti或Ta形成的缓冲层;

形成于所述缓冲层上的由Ru形成的第一衬层;

与所述第一衬层接触的由Ru和氧化物形成的第二衬层;

形成于所述第二衬层上的第一和第二铁磁记录层,其中所述第一和第二 铁磁记录层彼此接触,所述第二铁磁记录层形成在所述第一铁磁记录层上; 及

形成于所述第一和第二铁磁记录层上的帽盖层,所述帽盖层由没有氧的 Co合金形成,

其中所述第二铁磁记录层的Pt浓度低于所述第一铁磁记录层的Pt浓度,

其中所述第一铁磁记录层由选自由CoPt-TiO2、CoPt-SiO2和CoPt-CrO 构成的集合的任何一种材料形成,所述第二铁磁记录层由选自由 CoCrPt-SiO2、CoCrPt-TiO2和CoCrPt-CrO构成的集合的任何一种材料形成, 且

其中所述帽盖层是晶粒不被氧化物隔离的连续薄膜。

2.根据权利要求1所述的垂直磁记录介质,其中,所述第一铁磁记录 层具有10-50at%的Pt浓度。

3.根据权利要求1所述的垂直磁记录介质,其中,所述第二铁磁记录 层具有1-30at%的Pt浓度。

4.根据权利要求1所述的垂直磁记录介质,其中,所述第一铁磁记录 层的磁各向异性能为5×106到5×107erg/cc。

5.根据权利要求1所述的垂直磁记录介质,其中,所述第二铁磁记录 层的磁各向异性能为1×106到5×106erg/cc。

6.根据权利要求1所述的垂直磁记录介质,其中,所述第一和第二铁 磁记录层中的每者的晶粒被其中的TiO2、SiO2或CrO隔离。

7.根据权利要求1所述的垂直磁记录介质,其中,所述帽盖层由CoCrPtB 形成。

8.根据权利要求1所述的垂直磁记录介质,其中,所述第二衬层中含 有的晶粒由Ru形成,氧化物成分置于所述晶粒之间。

9.一种垂直磁记录介质,包括:

衬底;

形成于所述衬底上的由CoZrNb合金形成的软磁层;

在所述软磁层上由Ti或Ta形成的缓冲层;

在所述缓冲层上由Ru形成的第一衬层;

在所述第一衬层上由Ru和氧化物形成的第二衬层;

形成于所述第二衬层上的第一和第二铁磁记录层,其中所述第一和第二 铁磁记录层彼此接触;及

形成于所述第二铁磁记录层上的帽盖层,所述帽盖层由没有氧的Co合 金形成,

其中所述第一铁磁记录层由选自由CoPt-TiO2、CoPt-SiO2和CoPt-CrO 构成的集合的任何一种材料形成,所述第二铁磁记录层由选自由 CoCrPt-SiO2、CoCrPt-TiO2和CoCrPt-CrO构成的集合的任何一种材料形成,

其中所述第一和第二铁磁记录层中的每者的晶粒被其中的TiO2、SiO2或CrO隔离,且

其中所述第二衬层通过在氧浓度为0.1-5%的气氛下的反应溅射形成。

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