[发明专利]制造具有树脂模制外壳的电子装置的方法及模制工具有效
申请号: | 200810098368.0 | 申请日: | 2008-05-30 |
公开(公告)号: | CN101320700A | 公开(公告)日: | 2008-12-10 |
发明(设计)人: | 渡边达也;井本正彦;五岛义也 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/56;H01L21/52;H01L21/60;B29C45/14;B29C45/26 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王艳江;吴焕芳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制造 具有 树脂 外壳 电子 装置 方法 工具 | ||
1.一种制造电子装置(6)的方法,所述电子装置(6)包括电子电路部分(60)和用于密封所述电子电路部分(60)的树脂模制外壳(61),所述方法包括:
将电子元件(600a-600c)布置在配线板(600d-600i)上,所述配线板(600d-600i)与连接器端子(600j-600m)电耦连;
用第一外壳元件(600n)覆盖所述配线板(600d-600i)的第一表面,并用第二外壳元件(600o)覆盖所述配线板(600d-600i)的第二表面,以形成所述电子电路部分(60);
以使得所述连接器端子(600j-600m)的端部突出到模制工具(2,4,5)的外壳腔(24,44)之外的方式将所述电子电路部分(60)置于所述外壳腔(24,44)中;以及
将树脂(3)填充到所述模制工具(2,4,5)的外壳腔(24,44)中以形成所述树脂模制外壳(61),同时保持这样的状态,即将所述第一外壳元件(600n)朝向所述配线板(600d-600i)推动并随时间变化的第一压力等于将所述第二外壳元件(600o)朝向所述配线板(600d-600i)推动并随时间变化的第二压力,其中
所述第一外壳元件(600n)和所述第二外壳元件(600o)中的至少一个具有壁部分(600p,600r),所述壁部分(600p,600r)沿着所述第一外壳元件(600n)和所述第二外壳元件(600o)之一的表面外端的整个周边布置,并朝向所述配线板(600d-600i)突出;并且
树脂(3)填充到所述外壳腔(24,44)中,使得当所述第一外壳元件(600n)和所述第二外壳元件(600o)被所填充的树脂(3)朝向所述配线板(600d-600i)推动时,所述壁部分(600p,600r)接触所述配线板(600d-600i)并变形。
2.如权利要求1所述的方法,其中:
所述第一压力和第二压力由所填充的树脂(3)产生。
3.如权利要求1或2所述的方法,其中:
在将树脂(3)填充到所述外壳腔(24)中的同时保持这样的状态,即所述第一外壳元件(600n)的被所填充的树脂(3)覆盖的、且随时间变化的面积等于所述第二外壳元件(600o)的被所填充的树脂(3)覆盖的、且随时间变化的面积。
4.如权利要求1所述的方法,其中:
以使得所述第二外壳元件(600o)由所述模制工具(4,5)的一部分(410a,520a)从所述配线板(600d-600i)的相反侧保持的方式,将所述电子电路部分(60)布置在所述模制工具(4,5)的外壳腔(44)中;
所述第二压力的一部分和所述第一压力由所填充的树脂(3)产生;并且
在将树脂(3)填充到所述外壳腔(44)中的同时保持这样的状态,即所述第二压力的所述一部分小于所述第一压力。
5.如权利要求4所述的方法,其中:
所述第二压力的另一部分由保持所述第二外壳元件(600o)的所述模制工具(4,5)的所述部分(410a,520a)提供。
6.如权利要求4或5所述的方法,其中:
在将树脂(3)填充到所述外壳腔(44)中的同时保持这样的状态,即所述第二外壳元件(600o)的被所填充的树脂(3)覆盖的、且随时间变化的面积小于所述第一外壳元件(600n)的被所填充的树脂(3)覆盖的、且随时间变化的面积。
7.如权利要求1所述的方法,其中:
所述壁部分(600p,600r)具有第一刚度;
所述第一外壳元件(600n)和所述第二外壳元件(600o)之一的其它部分具有第二刚度;并且
所述第一刚度小于所述第二刚度。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造