[发明专利]跌落试验台的支臂结构

说明书

技术领域

本发明涉及跌落试验台技术领域，具体涉及跌落试验台中一种支臂结构。

背景技术

跌落试验台是一种力学环境试验设备，主要模拟产品包装件在实际运输装卸过程中可能产生的跌落和冲击环境，从而考核产品包装件在运输和装卸过程中承受垂直跌落冲击的能力。该试验设备广泛应用于家电、电子、仪器仪表、通讯等行业。

跌落试验台主要由底板、工作支臂、立柱及提升装置、锁定释放装置、控制仪等构成，大型跌落试验台还增加有减振缓冲装置。跌落试验台必须通过提升装置将试验样品提升至设定高度，然后在试验样品静止状态下释放，使试验样品垂直自由落下，这样才能完成跌落试验过程。其中，支臂相当于工作台面，用于放置试品并与试品一起垂直升降，在做跌落试验时，支臂必需要瞬间向下与试品脱开，从而让试品自由跌落在底板上。

现有技术中，跌落试验台支臂结构有两种，一种是摆臂式结构，一种是E型叉结构。

摆臂式支臂结构见图1，这种支臂一般呈L型，提升时支臂91工作面保持水平托住试品，释放时支臂91以支点为圆心，向下以弧形的运动轨迹H1进行摆动，在弹簧等拉力作用下瞬间抽离试品。该结构缺点主要有三个：一个是由于必需给支臂摆动留一个释放抽回的空间，所以最低跌落高度受限，无法实现零跌落；一个是由于支臂的长度不能太长，所以只能跌小于1000mm×1000mm×800mm的包装件，无法实现大型包装件(一般认为重量大于150kg或包装件最大尺寸超过1200mm×1200mm×1200mm的包装件)的跌落试验；还有一个是由于支臂是弧形摆离试品，这样不可避免地造成试品在自由落下前有一个倾斜角，越大的包装件，倾角就越大。

E型叉支臂结构见图2，这种支臂工作台面一般呈E型，E型叉92的尾部有一垂直于台面的提升柄93，提升柄93在垂直导轨上滑动，带动支臂上下运动(图中的运动轨迹H2)，释放后，支臂以大于1g的初始加速度跌入底板的凹槽中，试品自由跌落在底板上面。该结构缺点主要有三个：(1)、是支臂仅有一个提升受力点，释放后支臂也只有一个缓冲受力点，且力都作用于支臂的根部，因此受力不均匀，支臂的力平衡性很差。这会导致提升平稳性差、支臂不断受到很大的单一方向外力作用，不可避免地产生变形，E型叉和提升方向的夹角逐渐大于90度，工作面将不在水平上。E型叉的变形还会引起和底板的碰撞，直接造成故障。(2)、限于受力强度限制，E型叉长度不能太长，所以该结构仍不能解决大型包装件的跌落问题。(3)、该种支臂还具有使用寿命短及维修困难，跌落效率低，跌落噪音巨大等问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种受力均衡、提升平稳、结实耐用、可靠性高、使用寿命长、能满足大型包装件跌落试验的支臂结构。

为实现上述发明目的，本发明所采用的技术方案如下：一种跌落试验台的支臂结构，其装设于跌落试验台上，所述支臂结构包括横向排列的复数支撑杆，与该等支撑杆的两端部分分别固定连接的纵梁，以及固定设置于纵梁上部的提升柄。

所述的支撑杆为平行排列的复数组纵向方管，其两端分别套装有向上弯折的弯管。

所述弯管向上弯折后与对应侧的纵梁下端固定，两纵梁平行设置。

所述的支撑杆为二到四组。

所述纵梁为内设垂直筋板的两薄钢板焊接结构，两纵梁的上端螺栓固定提升柄。

所述支臂结构还包括一固定于所述纵梁上的直线轴承。

所述提升柄上开设有提升槽。

由于上述技术方案的运用，本发明与现有技术相比具有下列显著优点：

1、由于支臂结构为两端受力，支撑杆对称分布，所以受力均匀，平衡性好，大大提高支臂的整体力学性能，因此该结构承载能力大，结实耐用，可靠性高。

2、支臂结构可以把支撑杆长度设计的很长，所以该结构可以适应大型包装件的跌落试验。

3、由于支撑杆采用方管结构，方管很轻，易于安装拆卸，所以维护保养方便。

4、由于支臂是两端提升方式，且两端导向滑块采用滚珠轴承，所以滑动阻力非常小，支臂提升平稳，释放后跌落也非常迅速，跌落噪音很小。

5、采用该支臂结构的跌落试验台不需要做专用地基，只需放置在常规水平地面即可。

附图说明

图1是现有的摆臂式支臂的结构图；

图2是现有的E型叉支臂的结构图；

图3是本发明支臂结构立体示意图；

图4是装设本发明支臂结构的跌落试验台的立体示意图；

图5是图4的局部侧视图。

具体实施方式