[发明专利]图像传感器及其制造方法无效
申请号: | 200810097178.7 | 申请日: | 2008-05-19 |
公开(公告)号: | CN101308859A | 公开(公告)日: | 2008-11-19 |
发明(设计)人: | 柳商旭 | 申请(专利权)人: | 东部高科股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L31/0224;H01L21/822;H01L31/18 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郑小军 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像传感器 及其 制造 方法 | ||
1.一种制造图像传感器的方法,其包含如下步骤:
在半导体衬底上形成互补金属氧化物半导体电路;
在所述半导体衬底上形成包括金属互连和层间电介质的金属互连层,所述金属互连为所述互补金属氧化物半导体电路提供连接;
在所述金属互连层上形成光接收单元;以及
在所述光接收单元上形成透镜型上电极,
其中形成所述透镜型上电极的步骤包括:
在所述光接收单元上沉积电极材料,以形成上电极层;
在所述上电极层上形成微透镜掩模;以及
使用所述微透镜掩模作为蚀刻掩模来蚀刻所述上电极层。
2.根据权利要求1所述的方法,其中形成所述微透镜掩模的步骤包括:
对所述半导体衬底施加光致抗蚀剂;
图案化所述光致抗蚀剂;以及
对经图案化的光致抗蚀剂执行回流工序。
3.根据权利要求1所述的方法,其中在所述上电极层与所述微透镜掩模之间的蚀刻速率约是1∶1。
4.根据权利要求1所述的方法,其中蚀刻所述上电极层的步骤包括使用与O2、N2、Ar和He中的至少一种气体混合的蚀刻气体CxHyFz,其中x、y和z是0或自然数。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述透镜型上电极包括透明电极。
6.根据权利要求1所述的方法,还包括如下步骤:
在包括所述透镜型上电极的半导体衬底上形成焊盘掩模;以及
通过使用所述焊盘掩模作为蚀刻掩模来执行蚀刻工序,暴露所述金属互连层的焊盘金属互连。
7.根据权利要求6所述的方法,其中暴露所述焊盘金属互连的步骤包括使用与O2、N2和Ar中的至少一种气体混合的蚀刻气体CxHyFz,其中x、y和z是0或自然数。
8.根据权利要求6所述的方法,还包括在暴露所述焊盘金属互连后,在所述透镜型上电极上形成滤色镜。
9.根据权利要求1所述的方法,还包括在所述透镜型上电极上形成滤色镜。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的