[发明专利]电子元件的检测系统及其检测方法有效
| 申请号: | 200810095400.X | 申请日: | 2008-05-05 |
| 公开(公告)号: | CN101576510A | 公开(公告)日: | 2009-11-11 |
| 发明(设计)人: | 汪秉龙;陈桂标;陈信呈;周明澔 | 申请(专利权)人: | 久元电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89 |
| 代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 潘培坤;雷志刚 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电子元件 检测 系统 及其 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种电子元件的检测系统及其检测方法,尤其涉及一种利用两组转盘的搭配所建构成的检测系统及其方法。
背景技术
近年来,便携式信息电子产品与移动通讯产品朝着轻薄短小、多功能、高可靠度与低价化的趋势发展,顺应这个趋势,在电子产品的电路设计之中,各式各样的电子元件也正必须面对集成整合化的问题。电子元件小型化一直是产业界的发展主流,例如随着传统的、仅具有纯语音通讯功能的移动电话的陆续消失,消费者对移动电话的需求更趋向于多元化方向发展,其中包括记事功能、短讯传输及多媒体影音传输等附加的应用直接带动了移动电话在产品设计上的变革,也正因为产品设计趋于复杂,其所使用到的电子元件的数目越来越多。
又例如汽车设计科技已从以往着重机械性能的时代,开始转变为汽车电子化与信息化的时代,汽车智能通讯系统、行车计算机、卫星定位系统等电子化配备目前已广泛应用在车辆的使用上。随着汽车电子化程度日益提高,汽车所需使用的电子元件数量也随之增加。
因此,电子元件的可靠度以及产品的合格率影响到各种产品在使用时的质量以及性能表现。一般而言,电子元件在制造完成后均会进行目视检测的流程以确保电子元件的质量。在已知技术中,电子元件会放置在一大型转盘上以供多组摄影机撷取其表面的影像,但为了得到电子元件底面的影像,该大型转盘必须为透光材质,以利于摄影机捕捉电子元件的底面影像。第一种作法可利用高硬度的石英玻璃制作该大型转盘,但石英玻璃的单价高,造成检测装置的成本相当高,因此不符合经济效益。另一作法则利用强化玻璃制作该大型转盘,但强化玻璃的硬度不足,电子元件容易在该强化玻璃转盘表面上留下刮痕,使得影像撷取时无法获得清楚的电子元件底面影像,造成分析结果的不正确。再者,由于转盘具有透光性,则摄影机在撷取影像时容易受到其它外部机构的影响,也会造成影像判别时的误差。
因此,本发明提出一种设计合理且能有效改善上述缺点的电子元件检测系统。
发明内容
本发明的主要目的,在于提供一种含有两个转盘的检测系统及其检测方法,该系统可利用一较小的透明转盘,以达到检测电子元件底面的功能。
本发明的另一目的,在于提供一种较小的透明转盘,其具有高硬度的性质,以避免转盘受到待检测的电子元件的碰撞而刮伤,进而减少影像撷取的干涉现象以提高检测准确度。
为了达到上述目的,本发明提供一种电子元件的检测系统,其特征在于,包括:一第一透明转盘,其中所述电子元件连续供应以放置于该第一透明转盘上方;一第一影像撷取单元,其设置于该第一透明转盘下方以检测所述电子元件的底面;一第二转盘,其邻接于该第一透明转盘,该第一透明转盘的尺寸小于该第二转盘的尺寸;一导引单元,其设置于该第一透明转盘与该第二转盘的邻接位置,该导引单元则同时跨设在该第一透明转盘与该第二转盘上,其中位于该第一透明转盘上的所述电子元件通过该导引单元导引转送至该第二转盘;以及多个第二影像撷取单元,其设置于该第二转盘上方以检测所述电子元件的其它外表面。
本发明还提供一种应用于上述检测系统的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤(a),在该第一透明转盘上连续提供所述电子元件;步骤(b),利用该第一影像撷取单元撷取每一电子元件的底面影像;步骤(c),利用设置于该第一透明转盘与该第二转盘的邻接位置且同时跨设在该第一透明转盘与该第二转盘上的该导引单元将所述电子元件导引转送至该第二转盘上,其中该第一透明转盘的尺寸小于该第二转盘的尺寸;以及步骤(d),利用该第二影像撷取单元撷取每一电子元件的其它外表面影像。
本发明具有以下有益的效果:本发明提出的检测系统,利用高硬度的材质制作成较小的转盘并配合金属材质的较大转盘,因此可以大幅度减少检测系统的成本;另一方面,应用检测系统的检测方法可利用两阶段的收料动作,预先排除底面不合规格的电子元件,藉以提高整体检测效率。
为使本领域技术人员能更进一步了解本发明的特征及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,然而附图仅提供参考与说明用,并非用来对本发明加以限制。
附图说明
图1是本发明的电子元件的检测系统的示意图。
图2是本发明的电子元件的检测系统的侧视图。
图3是电子元件外观的示意图。
图4是本发明的分析与控制单元的撷取影像的示意图。
图5是本发明的电子元件的检测系统第二实施例的示意图。
其中,附图标记说明如下:
10第一透明转盘 11第一影像撷取单元
111第一摄影镜头 112第一发光件
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