[发明专利]电容式触控装置及其控制方法

说明书

技术领域

本发明是有关一种触控装置，特别是有关于一种电容式触控装置及控制方法。 

背景技术

在传统应用上，大尺寸电容式触控面板皆使用表面电容式(surfacecapacitive)感测技术，但表面电容式感测技术是利用流向触控面板各端点的一组电流不同来判别手指的位置，因此当触碰触控面板的手指数为二指以上时，回报电流组数仍为一组，故仅能辨别一组绝对坐标位置，例如在二维矩阵时仅能回报一组X，Y参数，因而无法达到多指触控的功能。 

所有触点可定位(All Points Addressable；APA)型阵列电容式感测技术虽然可以达到多指触控的功能，但是其需要对每个点感测器(Point Sensor)进行充放电的动作，以矩阵形状的触控面板来说，当X轴及Y轴的感应线(trace)增加时，APA型阵列电容式的像素数目将急剧增加，因而造成取像速度(frame rate)下降，故不适用于大尺寸触控面板的应用。 

另一种轴交错(Axis Intersect；AI)型阵列电容式感测技术也同样能达到多指触控的功能。图1显示传统应用在小尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术，其包括一小尺寸触控面板10以及一AI型阵列电容式触控IC12扫描触控面板10，以一最大可支援扫描22条感应线的AI型阵列电容式触控IC12为例来说，虽然应用在X轴及Y轴各有10条感应线TRX1～TRX10及TRY1～TRY10的小尺寸触控面板10时取像速度还不错，但是若要将AI型阵列电容式触控IC12应用于X轴及Y轴各有40条感应线TRX1～TRX40及 TRY1～TRY40的大尺寸触控面板14时，如图2所示，则必须增加AI型阵列电容式触控IC12可扫描的总感应线数量，然而，触控IC12每次对电容充放电所花费的时间占整体触控面板应用上的取像速度的比例非常大，也就是说取像速度问题主要由IC12每个帧(frame)对电容充放电所决定，故以增加可扫描感应线数的方法应用于大尺寸触控面板14将会有一非常大的缺点，就是整体应用上的取像速度将会严重下降，进而影响应用端的效能。 

发明内容

本发明的目的之一，在于提出一种决定边界问题的电容式触控装置及其控制方法。 

本发明的目的之一，在于提出一种增加取像速度的电容式触控装置及其控制方法。 

根据本发明，一种电容式触控装置及其控制方法包括一触控面板以及多个串接的集成电路，该触控面板具有多条感应线，该多个串接的集成电路中的第一集成电路对该多条感应线中的第N条感应线充放电产生一第一信号，该多个串接的集成电路中的第二集成电路对该多条感应线中的第N+1条感应线充放电产生一第二信号，该第一集成电路将该第一信号传送给该第二集成电路，使该第二集成电路可以根据该第一及第二信号决定该第N条感应线的感应量，进而解决边界问题。 

此外，该多个串接的集成电路皆是独立运作，当该第一集成电路扫描至其所负责的最后一条感应线，即该第N条感应线，该第二集成电路开始扫描其所负责的第一条感应线，即该第N+1条感应线，该第一集成电路将其扫描结果传送给该第二集成电路，当该第二集成电路扫描至其所负责的最后一条感应线时，在该第二集成电路之后的第三集成电路将开始扫描其所负责的第一条感应线，该第二集成电路将把其与该第一集成电路的扫描结果全部传送给该第三集成电路，以此接力的方式将所有集成电路的扫描结果传送至最后 一颗集成电路进行运算，每一颗集成电路在扫完其所负责的最后一条感应线时，将再次从其所负责的第一条感应线开始扫，因此，除了第一次扫描时间需要较长外，之后只需要一颗集成电路的扫描时间便可以扫完整个触控面板，因而增加取像速度。 

附图说明

图1显示传统应用在小尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术； 

图2显示传统应用在大尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术； 

图3显示一种使用二颗以上AI型阵列电容式触控IC扫描触控面板的电容式触控装置； 

图4显示图3的局部放大图； 

图5显示本发明的第一实施例； 

图6显示本发明的第二实施例；以及 

图7显示本发明的第三实施例。 

附图标号： 

10    触控面板 

12    触控IC 

14    触控面板 

20    电容式触控装置 

22    触控面板 

24    触控IC 

26    触控IC 

30    电容式触控装置 

32    触控面板