[发明专利]光存储介质记录读取装置和跟踪控制方法

权利要求书

1.一种光存储介质记录读取装置，对至少具有第1信息记录层和第2信息记录层的光存储介质进行信息记录和读取，其特征在于，包括：

出射光束的光源；

将所述光源出射的所述光束至少分割成第1光束和第2光束的衍射光学元件；

使所述衍射光学元件所分割成的所述第1光束和所述第2光束聚光于具有多层信息记录层的光存储介质的聚光部；

使所述聚光部移动的驱动部；

对所述第1光束从所述光存储介质反射的第1反射光束和所述第2光束从所述光存储介质反射的第2反射光束进行检测的光检测器；

根据从经过所述光检测器检测的所述第1反射光束得到的第1跟踪误差信号和从经过所述光检测器检测的所述第2反射光束得到的第2跟踪误差信号驱动所述驱动部，进行跟踪控制的跟踪控制部；以及

对包括与所述第2信息记录层的信息尚未记录区域相对的所述第1信息记录层的区域和与所述第2信息记录层的已记录信息区域相对的所述第1信息记录层的区域的所述第1信息记录层进行信息记录读取的情况下，校正所述第1跟踪误差信号的校正部，

所述跟踪控制部根据经过校正的第1跟踪误差信号和所述第2跟踪误差信号进行跟踪控制。

2.如权利要求1所述的光存储介质记录读取装置，其特征在于，所述校正部具有将所述第1跟踪误差信号限制为小于等于规定的第1阈值的限制部。

3.如权利要求2所述的光存储介质记录读取装置，其特征在于，

所述校正部还具有根据所述第1跟踪误差信号对所述规定的第1阈值进行可变调整的调整部，

所述限制部将所述第1跟踪误差信号限制为小于等于经过调整的所述第1阈值。

4.如权利要求2或3所述的光存储介质记录读取装置，其特征在于，

所述限制部是在所述第1跟踪误差信号超过所述第1阈值的情况下将所述第1跟踪误差信号限制为所述第1阈值输出的限幅电路。

5.如权利要求1所述的光存储介质记录读取装置，其特征在于，所述校正部具有：

检测部，检测对所述第1信息记录层进行信息记录读取的定时即边界通过定时，所述第1信息记录层包括与所述第2信息记录层的信息尚未记录区域相对的所述第1信息记录层的区域和与所述第2信息记录层的已记录信息区域相对的所述第1信息记录层的区域；以及

保持部，在检测出所述定时的情况下保持所述第1跟踪误差信号。

6.如权利要求5所述的光存储介质记录读取装置，其特征在于，所述检测部在所述第1跟踪误差信号超过第2阈值的情况下检测为所述边界通过定时。

7.如权利要求5所述的光存储介质记录读取装置，其特征在于，所述检测部根据记录于所述光存储介质的地址信息检测所述边界通过定时。

8.如权利要求5所述的光存储介质记录读取装置，其特征在于，

所述检测部根据从经过所述光检测器检测的所述第1反射光束得到的第1和信号的变化检测所述边界通过定时。

9.如权利要求8所述的光存储介质记录读取装置，其特征在于，

所述检测部还具有对所述和信号进行微分输出微分信号的微分电路，将所述微分信号超过第3阈值和第4阈值的时刻检测为边界通过定时。

10.如权利要求5～9中任一项所述的光存储介质记录读取装置，其特征在于，所述保持部具有：

按照将所输入的所述第1跟踪误差信号原样输出的采样模式和将输出保持为此前不久的数值的保持模式进行动作的采样保持电路；以及

如果所述检测部检测出所述边界通过定时便将所述采样保持电路切换为所述保持模式，而如果所述检测部未检测出所述边界通过定时则将所述采样保持电路切换为所述采样模式的电路控制部。

11.一种跟踪控制方法，对至少具有第1信息记录层和第2信息记录层的光存储介质进行跟踪控制，其特征在于，包括：

将所出射的光束至少分割成第1光束和第2光束的步骤；

将所分割的所述第1光束和所述第2光束聚光于具有多层信息记录层的光存储介质的步骤；

对所述第1光束从所述光存储介质反射的第1反射光束和所述第2光束从所述光存储介质反射的第2反射光束进行检测的步骤；

根据从所检测的所述第1反射光束得到的第1跟踪误差信号和从经过所述光检测器检测的所述第2反射光束得到的第2跟踪误差信号进行跟踪控制的步骤；

对包括与所述第2信息记录层的信息尚未记录区域相对的所述第1信息记录层的区域和与所述第2信息记录层的已记录信息区域相对的所述第1信息记录层的区域的所述第1信息记录层进行信息记录读取的情况下，校正所述第1跟踪误差信号的步骤；以及

根据经过校正的第1跟踪误差信号和所述第2跟踪误差信号进行跟踪控制的步骤。